三进制数位检测

检测项目

数位精度验证：分辨率±0.05%FS，动态范围0-2V（三态逻辑电平）

信号完整性分析：上升时间≤5ns，抖动容限±200ps

逻辑转换误差检测：最大允许误差±1.5%

抗电磁干扰测试：30MHz-6GHz频段，场强10V/m

温度稳定性评估：-40℃至+125℃工况下的参数漂移量

检测范围

三进制逻辑集成电路（含ASIC、FPGA）

量子计算存储单元模块

光通信三态编码器件

多值逻辑传感器系统

航天电子抗辐射控制单元

检测方法

ISO/IEC 13239:2022 信息处理系统-多值逻辑器件测试规程

ASTM F1241-22 三态信号完整性测量标准

GB/T 17626.4-2018 电磁兼容 快速瞬变脉冲群抗扰度试验

IEC 60749-25:2020 半导体器件-温度循环试验方法

GB/T 30276-2013 信息安全技术 逻辑电路抗干扰测试指南

检测设备

Keysight M9505A 高精度三态逻辑分析仪（支持0/1/2状态解析）

Tektronix DPO73304SX 示波器（33GHz带宽，12-bit ADC）

Chroma 19032 三进制电源加载系统（最大输出2.5kV）

Espec PL-3KPH 温控试验箱（-70℃~+180℃）

Rohde&Schwarz TS9980 电磁兼容测试系统（6GHz全频段覆盖）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"三进制数位检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。