


概述:检测项目1.电容量偏差:测量标称值与实测值差异,允许偏差5%(C≤10μF)或10%(C>10μF)。2.耐压测试:施加1.5倍额定电压60秒无击穿或飞弧现象。3.损耗角正切值(tanδ):频率1kHz时≤0.02(聚酯薄膜类)或≤0.08(电解类)。4.绝缘电阻:直流100V下≥10000MΩμF(薄膜电容)或≥1000ΩV(电解电容)。5.温度特性:-55℃~+125℃范围内电容量变化率≤15%。检测范围1.铝电解锡箔电容器:用于电源滤波与储能电路。2.聚酯薄膜锡箔电容器:适用于高频信号耦合与噪声抑制
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.电容量偏差:测量标称值与实测值差异,允许偏差5%(C≤10μF)或10%(C>10μF)。
2.耐压测试:施加1.5倍额定电压60秒无击穿或飞弧现象。
3.损耗角正切值(tanδ):频率1kHz时≤0.02(聚酯薄膜类)或≤0.08(电解类)。
4.绝缘电阻:直流100V下≥10000MΩμF(薄膜电容)或≥1000ΩV(电解电容)。
5.温度特性:-55℃~+125℃范围内电容量变化率≤15%。
1.铝电解锡箔电容器:用于电源滤波与储能电路。
2.聚酯薄膜锡箔电容器:适用于高频信号耦合与噪声抑制。
3.聚丙烯金属化锡箔电容器:高耐压场景如变频器与逆变器。
4.高频陶瓷锡箔电容器:射频电路与微波通信设备。
5.固态电解锡箔电容器:耐高温长寿命要求的汽车电子系统。
1.电容量测试:ASTMD150-11介电常数法结合LCR表直接测量。
2.耐压强度测试:IEC60384-1:2016规定阶梯升压法。
3.损耗角正切值测试:GB/T2693-2001交流电桥法。
4.绝缘电阻测试:GB/T7335-2003直流偏置法(500V/60s)。
5.温度循环测试:ISO16750-4:2010规定-40℃~+125℃循环10次。
1.KeysightE4980A精密LCR测试仪:20Hz~2MHz频率范围,基本精度0.05%。
2.Chroma19032耐压测试仪:AC5kV/DC6kV输出,漏电流分辨率0.1μA。
3.HIOKIIM3536阻抗分析仪:支持四端对测量模式,频率上限8MHz。
4.ESPECPL-3KPH温度冲击箱:温变速率15℃/min,控温精度0.5℃。
5.Agilent34461A数字万用表:6位分辨率,最大1000VCATIII量程。
6.TettexBAURDTA100C绝缘电阻测试仪:10kV直流输出,电阻量程10^16Ω。
7.NFZM2371高频Q表:Q值测量范围1~1000,频率10kHz~70MHz。
8.ThermoScientificOrionStarA329电导率仪:支持非极化电极法测量电解液特性。
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"锡箔电容器检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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