团聚结构检测

检测项目1.粒径分布:D10/D50/D90值测定(0.1-1000μm范围)2.孔隙率分析:开孔/闭孔占比(精度0.5%)3.团聚强度测试:抗压强度(0.1-500N量程)4.比表面积测定:BET法(0.01-2000m/g范围)5.界面结合能分析:SEM-EDS元素映射(分辨率≤1nm)检测范围1.金属粉末:钛合金粉、铜基粉末冶金材料2.陶瓷材料:氧化铝微球、碳化硅团聚体3.高分子材料:PLA微球、环氧树脂复合颗粒4.催化剂载体:分子筛、活性炭负载体5.纳米材料:碳纳米管束、石墨烯片层聚集体检测方法A

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检测项目

1.粒径分布:D10/D50/D90值测定(0.1-1000μm范围)

2.孔隙率分析:开孔/闭孔占比(精度0.5%)

3.团聚强度测试:抗压强度(0.1-500N量程)

4.比表面积测定:BET法(0.01-2000m/g范围)

5.界面结合能分析:SEM-EDS元素映射(分辨率≤1nm)

检测范围

1.金属粉末:钛合金粉、铜基粉末冶金材料

2.陶瓷材料:氧化铝微球、碳化硅团聚体

3.高分子材料:PLA微球、环氧树脂复合颗粒

4.催化剂载体:分子筛、活性炭负载体

5.纳米材料:碳纳米管束、石墨烯片层聚集体

检测方法

ASTMB822-20金属粉末粒度分布标准测试方法

ISO15901-2:2022压汞法测定孔隙尺寸分布

GB/T21650.3-2011静态容量法比表面积测定

ISO13322-1:2021动态图像分析法表征颗粒形貌

GB/T23413-2009纳米材料粒度分布测试通则

检测设备

1.MalvernMastersizer3000:激光衍射法粒度分析(0.01-3500μm)

2.MicromeriticsASAP2460:全自动比表面及孔隙度分析仪(77K氮吸附)

3.HitachiSU5000场发射扫描电镜:二次电子成像(分辨率0.8nm)

4.AntonPaarPSA1190:动态图像分析系统(1-30000μm测量范围)

5.ShimadzuAGX-V10kN:微力试验机(0.001-10kN载荷精度)

6.HoribaLA-960V2:激光散射粒度仪(湿法/干法双模式)

7.BrukerD8ADVANCE:X射线衍射仪(晶相结构分析)

8.NetzschSTA449F3:同步热分析仪(TG-DSC联用)

9.QuantachromeAutosorb-iQ3:化学吸附分析仪(脉冲滴定技术)

10.Keysight5500AFM:原子力显微镜(三维形貌重构)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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