宽频镀膜技术检测

检测项目1.光谱透过率/反射率:250-2500nm波段范围测试精度0.5%,入射角0-60可调2.膜层厚度均匀性:采用多点扫描法测量,允许偏差≤3%(@500nm基准厚度)3.附着力强度:划格法测试符合ISO2409标准,划痕临界载荷≥20N4.表面粗糙度:原子力显微镜测量Ra≤0.8nm(10μm10μm扫描区域)5.环境耐久性:包含85℃/85%RH湿热试验1000h、-40℃~+120℃热循环50次检测范围1.光学玻璃基板镀膜:包括AR减反射膜、IR截止滤光膜等2.聚合物薄膜涂层:PET/PC基材

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检测项目

1.光谱透过率/反射率:250-2500nm波段范围测试精度0.5%,入射角0-60可调

2.膜层厚度均匀性:采用多点扫描法测量,允许偏差≤3%(@500nm基准厚度)

3.附着力强度:划格法测试符合ISO2409标准,划痕临界载荷≥20N

4.表面粗糙度:原子力显微镜测量Ra≤0.8nm(10μm10μm扫描区域)

5.环境耐久性:包含85℃/85%RH湿热试验1000h、-40℃~+120℃热循环50次

检测范围

1.光学玻璃基板镀膜:包括AR减反射膜、IR截止滤光膜等

2.聚合物薄膜涂层:PET/PC基材柔性光学膜层

3.金属表面功能镀层:铝合金硬质氧化膜、不锈钢装饰镀层

4.陶瓷基板介质膜:微波器件用Al₂O₃基板功能涂层

5.复合镀膜材料:多层交替沉积的TiN/AlTiN硬质涂层

检测方法

1.ASTMB571-2018金属镀层附着力测试规范

2.ISO9211-4:2012光学镀膜环境耐久性试验方法

3.GB/T26323-2010色散型红外光谱法测定光学薄膜特性

4.ISO14703-2018薄膜厚度测量-椭偏仪法

5.GB/T31370-2015半导体器件表面钝化膜测试规程

检测设备

1.PerkinElmerLambda1050紫外可见近红外分光光度计:200-3300nm全波段透反射率测量

2.J.A.WoollamM-2000D成像椭偏仪:纳米级膜厚测量精度0.1nm

3.BrukerContourGT-X3白光干涉仪:表面形貌三维重建(1垂直分辨率)

4.CSMInstrumentsRevetest划痕测试仪:最大载荷50N(ISO20502标准)

5.ThermoScientificARLEQUINOX1000X射线衍射仪:薄膜晶体结构分析

6.Keysight5500原子力显微镜:10nm10μm量程表面粗糙度测量

7.ESPECPCT-120气候试验箱:温湿度循环(-70℃~+150℃/10-98%RH)

8.Taber5135耐磨试验机:CS-10磨轮/500g载荷(ASTMD1044标准)

9.ZeissCrossbeam550聚焦离子束显微镜:截面形貌纳米级观测

10.ShimadzuHMV-G21显微硬度计:薄膜硬度测试(载荷10gf-2kgf)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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