半导体功率器件高温测试

检测项目

1.电性能测试：漏电流、阈值电压、导通电阻、开关时间、反向恢复时间、击穿电压、饱和电流、跨导、输入电容、输出电容、栅极电荷、反向偏置安全工作区、正向偏置安全工作区、动态导通电阻、静态导通电阻、关断能量、导通能量等。

2.热性能测试：热阻、结温、热循环、热稳定性、热扩散系数、热传导率、高温存储、低温存储、温度冲击、热失控起始温度、热蔓延测试、热疲劳寿命等。

3.环境适应性测试：高温高湿、温度循环、盐雾腐蚀、低气压、振动测试、机械冲击、正弦振动、随机振动、粉尘防护、防水等级、臭氧暴露、紫外线老化、化学气体侵蚀等。

4.寿命测试：高温寿命、加速老化、循环次数、失效时间、可靠性指标、平均无故障时间、寿命分布、退化模型、失效分析、退役评估等。

5.安全性测试：过电压保护、过电流保护、短路测试、绝缘强度、接地连续性、电弧测试、火焰测试、爆炸测试、泄漏电流、故障模式分析等。

6.机械性能测试：抗拉强度、抗压强度、硬度、冲击韧性、疲劳寿命、蠕变性能、尺寸稳定性、密封性能、焊接强度、连接器耐久性等。

7.化学分析测试：材料成分、杂质含量、水分浓度、气体析出、界面反应、腐蚀产物、电解质组成、材料降解、元素分析、表面污染等。

8.功能安全测试：保护电路功能、故障诊断、预警机制、通信协议、数据记录、远程监控、安全状态评估、风险分析、功能安全等级、软件验证等。

9.结构完整性测试：封装强度、热膨胀系数、抗震性能、防尘防水等级、组装精度、接口兼容性、材料耐久性、疲劳强度、密封性、连接可靠性等。

10.噪声与振动测试：声压级、振动频率、加速度、位移量、噪声频谱、共振点分析、减振效果、声学性能、机械稳定性、环境噪声影响等。

11.可靠性测试：高温高湿寿命、温度冲击寿命、振动寿命、机械冲击寿命、电应力寿命、环境应力筛选、加速寿命测试、可靠性增长、失效物理分析等。

12.失效分析测试：电学失效、热学失效、机械失效、化学失效、界面失效、材料缺陷、工艺缺陷、设计缺陷、退化机制、根本原因分析等。

13.动态性能测试：开关损耗、导通损耗、反向恢复损耗、驱动特性、负载调整率、线性调整率、瞬态响应、过冲抑制、稳定时间、频率响应等。

14.静态性能测试：静态电流、静态电压、漏电特性、偏置点稳定性、温度系数、参数漂移、长期稳定性等。

15.电磁兼容性测试：辐射发射、传导发射、辐射抗扰度、传导抗扰度、静电放电、电快速瞬变脉冲群、浪涌冲击、电压暂降、短时中断、谐波电流等。

检测范围

硅功率MOSFET、绝缘栅双极晶体管、功率二极管、晶闸管、门极可关断晶闸管、集成门极换向晶闸管、碳化硅MOSFET、氮化镓高电子迁移率晶体管、快恢复二极管、肖特基二极管、功率模块、智能功率模块、高压集成电路、低压降稳压器、开关电源控制器、电机驱动芯片、射频功率放大器、光耦合器、继电器、传感器、电源管理芯片、电压调节器、电流控制器等。

检测标准

国际标准：

IEC 60747、IEC 62047、ISO 16750、JESD22、MIL-STD-883、IEC 60068、ISO 12103、IEC 61000、ISO 7637、IEC 61373、ISO 19453、IEC 62433、ISO 20653

国家标准：

GB/T 4937、GB/T 2423、GB/T 1772、GB/T 18655、GB/T 19951、GB/T 21437、GB/T 28046、GB/T 30038、GB/T 33014、GB/T 34590、GB/T 36478、GB/T 37423、GB/T 38661、GB/T 38662、GB/T 38663

检测设备

1.高温环境箱：提供可控的高温环境，用于存储和循环测试；温度范围从零下70摄氏度至零上300摄氏度，湿度控制可选，精度高。

2.半导体参数分析仪：测量静态和动态电参数；高精度电压电流源，多通道测试，数据采集与分析。

3.热阻测试系统：分析器件热特性；结温测量，热流控制，实时监控。

4.示波器：捕获动态信号波形；高速采样，多通道输入，触发功能。

5.电源供应器：提供稳定电压电流；可编程输出，过载保护，远程控制。

6.绝缘电阻测试仪：检测绝缘性能；高压测试，漏电流测量，安全隔离。

7.振动测试台：模拟机械振动环境；频率范围宽，加速度可控，数据记录。

8.盐雾试验箱：进行腐蚀测试；可控盐雾浓度，温度湿度调节，腐蚀速率分析。

9.热成像仪：非接触测温，用于热分布分析；红外摄像头，温度灵敏度高，图像处理。

10.失效分析显微镜：观察器件微观结构；高倍率镜头，图像采集，缺陷识别。

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"半导体功率器件高温测试"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。