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光路干涉检测

  • 原创官网
  • 2024-03-18 16:57:19
  • 关键字:光路干涉检测
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光路干涉检测概述:北检研究院实验室可根据相应光路干涉检测标准为您提供干涉测量、相移干涉、白光干涉、多通道干涉、时间延迟干涉等各种分析测试服务。北检(北京)检测技术研究院拥有完备的基础实验平台和先进的实验设备,配备强大的技术团队和标准的操作流程,使我们能够为您提供更全面、更优质、更便捷的检测服务。此外,我们还可为您提供税务即征即退政策所需的检测服务。

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参考周期:常规测试7-15工作日,加急测试5个工作日.

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

☌ 询价

光路干涉检测范围

  电子元件、金属材料、半导体器件、液晶显示屏、光学镜片、生物细胞、医疗设备、食品包装、化妆品、药品包装、建筑材料、航空航天零部件、汽车零配件、玻璃制品、纤维材料等。

光路干涉检测项目

  表面粗糙度、薄膜厚度、形貌偏差、位移变化、平面度、曲率半径、斜率角度、表面平整度、光学透过率、反射率、折射率、光学色散、光谱特性、相位差、图像畸变、干涉条纹密度、幅度分布、频谱分布、干涉对比度、步进距离误差等。

相关仪器

  光路干涉检测相应的仪器设备:

  干涉仪、激光干涉仪、白光干涉仪、干涉标准件、干涉图像处理软件、光栅衍射仪、反射镜、探测器、数据采集系统、计算机界面、干涉滤波器、光源调节器、干涉条纹分析仪、光学显微镜等。

光路干涉检测

光路干涉检测相关标准

  ASTM E2244-2011 用光学干涉仪测量反射薄膜共面长度的标准试验方法

  BS ISO 16063-11-1999 振动和冲击变换器的校准方法 第11部分:使用激光干涉测量的初步振动校准

  ASTM E2245-2011 用光学干涉仪测量反射薄膜残余应力的标准试验方法

  DIN 50441-3-1985 半导体工艺材料的检验; 半导体片几何尺寸的测量; 用多射线干涉法测定抛光片表面的平面偏差

  DIN 65571-4-1992 航空和航天.增强纤维.激光干涉法测定纤维直径

  DIN EN ISO 3868-1995 金属和其他无机镀层.镀层厚度测定.F氏多光束干涉法

  GB/T 7962.3-2010 无色光学玻璃测试方法 第3部分:光学均匀性 全息干涉法

  ASTM F1364-2003(2010) 使用校准设备证实非破坏性干涉激光成像轮胎检验系统的检验能力的规程

  ASTM E2246-2011 用光学干涉仪测量反射薄膜应变梯度的标准试验方法

北检院优势

  1、北检院始终坚持严格的质量控制体系和完善的后期服务,以确保客户获得高品质的检测结果和全面的支持。

  2、我们的检测项目涵盖广泛的领域,满足不同行业和应用的需求。无论是矿产资源、水泥混凝土路面,还是机械振动、生物工程等,我们都能为客户提供专业的分析测试服务。

  3、研究院配备了先进的仪器设备和其他辅助实验设施,并持续加强我们的检测研发实力。这确保了我们能够在技术上与时俱进,为客户提供准确可靠的测试服务。

  4、我们提供全方位的解决方案,根据客户的需求和问题,为其量身定制符合其具体要求的检测方案。我们的目标是帮助客户解决问题并提供最佳解决方案。

  5、信息安全是我们非常重视的方面。我们会与客户签订保密协议,注重保护客户的隐私和机密信息,确保客户的权益和利益得到充分的保护。

  6、北检院秉持着"诚信、严谨、服务、共赢"的服务理念,以尽心尽力为客户提供优质的服务和满意的解决方案。我们致力于与客户建立长期的合作伙伴关系,并努力实现共同的成功和发展。

  以上是与光路干涉检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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