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光学图谱分析检测

  • 原创官网
  • 2025-03-15 14:33:23
  • 关键字:北检研究院,光学图谱分析检测

相关:

概述:光学图谱分析检测通过光谱特征解析实现材料成分鉴定与结构表征,核心检测项目涵盖反射率、透射率及荧光光谱等参数。该技术适用于半导体、生物医药等领域材料分析,严格遵循ASTM、ISO及GB/T标准体系,采用高精度分光光度计与拉曼光谱仪完成数据采集与处理。

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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

因篇幅原因,CMA/CNAS证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

反射率光谱分析:波长范围200-2500nm,角度分辨率±0.1°,绝对反射率精度±0.5%

透射率光谱测试:紫外-可见-近红外波段(190-3300nm),最小样品厚度0.1mm

荧光光谱检测:激发波长200-800nm,发射波长范围220-900nm

拉曼光谱表征:激光波长532/785/1064nm可选,波数范围100-4000cm⁻¹

红外吸收谱分析:中红外波段4000-400cm⁻¹,分辨率≤0.5cm⁻¹

检测范围

半导体材料:硅晶圆、GaN外延片、量子点薄膜

光学镀膜产品:AR减反射膜、IR截止滤光片

生物医学样本:细胞培养基底、药物晶体结构

高分子聚合物:PE/PP薄膜、光固化树脂

金属复合材料:阳极氧化铝、磁控溅射涂层

检测方法

ASTM E903-20:材料太阳吸收比与反射比测试方法

ISO 13468-1:2019:塑料透明材料透光率测定

GB/T 14571.3-2021:塑料红外光谱分析方法通则

ISO 20310:2018:拉曼光谱法测定碳材料结构特性

GB/T 26179-2010:光源颜色的测量方法

检测设备

Horiba LabRAM HR Evolution:共聚焦拉曼光谱仪,配备532/785nm双激光源

PerkinElmer Lambda 950:双光束紫外可见近红外分光光度计(190-3300nm)

Bruker Vertex 80v:真空型傅里叶变换红外光谱仪(远红外至可见光)

Ocean Insight FX系列:光纤光谱仪(200-1100nm),积分时间1ms-10s可调

Renishaw inVia Qontor:显微拉曼系统(激光功率0.1-100mW连续可调)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

以上是与"光学图谱分析检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

    材料检测服务

    专业分析各类金属、非金属材料的成分、结构与性能,提供全面检测报告和解决方案。包括金属材料力学性能测试、高分子材料老化试验、复合材料界面分析等。

    化工产品分析

    精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。

    环境检测服务

    提供土壤、水质、气体等环境检测服务,助力环境保护与污染治理,共建绿色家园。包括VOCs检测、重金属污染分析、水质生物毒性测试等。

    科研检测认证

    凭借专业团队和先进设备,致力于为企业研发、质量控制及市场准入提供精准可靠的技术支撑,助力品质提升与合规发展。