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带内插入损耗检测

  • 原创官网
  • 2025-03-20 09:06:05
  • 关键字:带内插入损耗测试标准,带内插入损耗测试范围,带内插入损耗测试方法
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带内插入损耗检测概述:带内插入损耗检测是评估信号传输系统性能的核心指标之一,主要针对高频信号在传输介质中的能量衰减特性进行量化分析。检测需关注频率响应范围、温度稳定性及阻抗匹配度等关键参数,适用于通信设备、航空航天及工业控制等领域的质量控制与性能验证。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

频率范围:10 MHz - 40 GHz(依据被测件规格调整)

插入损耗值:0.1 dB - 6.0 dB(±0.05 dB精度)

温度稳定性:-55℃至+125℃环境下的损耗波动值

阻抗匹配度:50Ω/75Ω系统VSWR≤1.5:1

回波损耗:≥20 dB(DC-18 GHz频段)

检测范围

光纤连接器(单模/多模)

同轴电缆组件(SMA/N/BNC接口)

波导组件(WR90/WR15系列)

射频连接器(PCB板端/线缆端)

微波滤波器(带通/低通型)

检测方法

ASTM D4566-2013:同轴通信电缆电气性能测试标准

ISO/IEC 14763-3:2014:光缆布线系统衰减测量规范

GB/T 18311.3-2001:纤维光学互连器件试验方法第3部分

GB/T 11313.41-2018:射频连接器第41部分电气试验方法

IEC 60512-27-100:2020:高频信号完整性测试程序

检测设备

矢量网络分析仪:Keysight N5222B(10 MHz - 26.5 GHz),N5245B(10 MHz - 50 GHz)

校准套件:Keysight 85052D 3.5 mm精密校准组件

测试夹具:Cascade Microtech 3680K高频探针台

光时域反射仪:EXFO FTB-200(动态范围45 dB)

高低温试验箱:ESPEC SH-261(温变速率5℃/min)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与带内插入损耗检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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