检测项目

1.氧含量测定:采用惰性气体熔融法,测量范围0.0001%-0.05%,分辨率达0.00001%

2.导电率测试:四探针法测量电导率,精度0.5%IACS(国际退火铜标准),温度补偿范围20-30℃

3.密度测量:阿基米德法测定表观密度,精度0.01g/cm,符合理论密度99.5%以上要求

4.显微组织分析:金相显微镜观测晶粒度(ASTME112标准),夹杂物评级(ISO4967:2013)

5.力学性能测试:拉伸强度(≥200MPa)、延伸率(≥35%),试验速率2mm/min(GB/T228.1)

检测范围

1.电工用无氧铜材(C10100/C10200)线材、板材及管材

2.真空电子器件用脱氧铜密封件与电极组件

3.铜合金材料(磷脱氧铜C12000系列)阀门与管件

4.超导磁体用高纯铜基复合材料(纯度≥99.999%)

5.半导体封装用镀氧铜框架与引线材料

检测方法

ASTME1447-22:惰性气体熔融法测定金属中氧含量

ISO2626:2022:铜及铜合金氢脆敏感性试验方法

GB/T5121.3-2021:铜及铜合金化学分析方法第3部分:氧量的测定

GB/T4340.1-2022:金属材料维氏硬度试验第1部分:试验方法

IEC60468:2020:金属材料电阻率测量方法

检测设备

LECOONH8360氧氮氢分析仪:脉冲加热炉温达3000℃,红外/热导双检测系统

Sigmatest2.069导电率测试仪:四探针自动补偿技术,量程0.5-110%IACS

Instron68TM-300kN万能试验机:全数字控制系统,应变速率精度0.5%

ZeissAxioImagerM2m金相显微镜:5000倍明暗场成像,自动晶粒度分析模块

MettlerToledoXS205电子天平:0.01mg分辨率,密度测定专用支架系统

BrukerQ4TASMAN直读光谱仪:CCD全谱采集,检出限0.1ppm(O元素)

NetzschDIL402C热膨胀仪:-150℃~1600℃温控,尺寸变化分辨率0.125nm

MalvernMastersizer3000激光粒度仪:干湿法双模测量,粒径范围0.01-3500μm