检测项目

1.谐振频率偏差：测量实际频率与理论值的偏移量（0.05GHz）

2.品质因数（Q值）：评估能量存储效率（Q≥1105）

3.模式纯度：分析基模与高阶模能量占比（基模占比≥98%）

4.插入损耗：量化光信号传输衰减（≤0.2dB/cm）

5.温度稳定性：测试-40℃~85℃范围内频率漂移（≤5ppm/℃）

检测范围

1.光纤布拉格光栅谐振腔（二氧化硅/掺铒光纤）

2.半导体激光器分布式反馈谐振腔（InGaAsP/InP材料）

3.微环谐振腔（氮化硅/硅基波导结构）

4.F-P干涉型谐振腔（熔融石英/蓝宝石基片）

5.光子晶体谐振腔（周期性介质结构）

检测方法

ASTME207-2018光学元件透射损耗测试规程

ISO10109-11:2021光学系统环境试验-温度循环法

GB/T15305-2019激光谐振腔模式特性测试方法

IEC61745-2017光纤器件端面缺陷检测规范

GB/T13739-2020光学晶体双折射率测量标准

检测设备

KeysightN5221A矢量网络分析仪（10MHz-26.5GHz频响测试）

Newport1918-R高精度光功率计（0.1nW-2W量程）

TektronixDPO7254数字荧光示波器（2.5GHz带宽）

Aglilent81600B可调谐激光源（1520-1620nm波长范围）

SANTECTSL-570精密温度试验箱（0.1℃控温精度）

ThorlabsSA210-5B扫描干涉仪（1500-1600nm光谱分析）

EXFOFTB-5240S偏振分析仪（偏振相关损耗测量）

SUSSMicroTecPM8探针台（微米级对准精度）