检测项目
1.电子增益系数：测量范围110-110⁶倍@800-1200V工作电压
2.暗电流密度：分辨率0.1pA/cm@25℃恒温环境
3.二次电子产额(SEY)：δmax值测定精度0.05
4.表面功函数：测试误差≤0.02eV@紫外光电子能谱法
5.热稳定性：温度循环测试(-40℃~+150℃)保持增益波动≤3%
检测范围
1.光电倍增管(PMT)金属打拿极
2.微通道板(MCP)玻璃基材
3.GaAs半导体光阴极
4.金刚石薄膜二次发射层
5.纳米结构银镁合金电极
检测方法
1.ASTMF3124-18电子增益动态测试规程
2.ISO17560:2020二次电子产额表面分析标准
3.GB/T20234-2021光电发射材料功函数测定法
4.IEC60385:2019倍增系统噪声系数测量规范
5.GB/T5169.21-2017电子组件温度循环试验标准
检测设备
1.Keithley2636B源表：纳安级电流测量(10fA分辨率)
2.PHI5000VersaProbeIII：XPS/UPS表面功函数分析
3.AgilentB1500A半导体分析仪：IV/CV特性曲线测试
4.ThermoScientificESCALABXi+：AES俄歇电子能谱仪
5.FEIHeliosG4UX：FIB-SEM微区成分联用系统
6.KeysightN6705C直流电源：多通道高压输出(2000V)
7.LakeShoreCRX-4K低温探针台：77K-500K变温测试
8.HamamatsuC9329光电测试平台：200-1100nm光谱响应测量
9.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：表面粗糙度(0.1nm精度)
10.ESPECTAS-112SA温控箱：温度冲击试验(1℃控制精度)