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铜箔胶带介电常数检测

  • 原创官网
  • 2025-04-14 11:31:35
  • 关键字:铜箔胶带介电常数测试周期,铜箔胶带介电常数测试案例,铜箔胶带介电常数测试仪器
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铜箔胶带介电常数检测概述:铜箔胶带介电常数检测是评估其在高频电子应用中绝缘性能的关键环节。本文聚焦介电常数及相关参数的标准化测试流程,涵盖材料特性分析、国际/国家标准方法及精密仪器选择要点,重点解析介电损耗、体积电阻率等核心指标对电磁屏蔽效能的影响机制。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.介电常数(ε):测量频率范围1kHz-1GHz下的相对介电常数

2.损耗角正切(tanδ):在10MHz-6GHz频段内测试介质损耗因子

3.体积电阻率:直流电压500V条件下测定Ωcm量级参数

4.表面电阻率:按100V测试电压下获取Ω/sq数据

5.击穿电压:AC50Hz条件下测试0.1mm厚度样品的kV/mm值

检测范围

1.单面导电型铜箔压敏胶带(厚度0.03-0.15mm)

2.双面覆铜聚酯基屏蔽胶带(基材厚度25-75μm)

3.耐高温聚酰亚胺基铜箔胶带(工作温度-65℃~260℃)

4.电磁屏蔽用超薄铜箔胶带(总厚度≤0.05mm)

5.高频电路用低介电改性胶带(ε≤3.0@1GHz)

检测方法

1.ASTMD150-18:固体电绝缘材料交流损耗特性及介电常数标准测试法

2.IEC60250:测量电气绝缘材料在工频、音频、射频下介电性能的方法

3.GB/T1410-2006:固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法

4.GB/T1408.1-2016:绝缘材料电气强度试验方法第1部分:工频下试验

5.IPC-TM-6502.5.5.3:印刷电路板材料介电常数与损耗角正切测试规程

检测设备

1.KeysightE4990A阻抗分析仪(频率范围20Hz-120MHz)

2.Agilent85070E介质探头套件(1MHz-3GHz频段测量)

3.HIOKIIM3570阻抗分析仪(4Hz-5MHz宽频段测试)

4.QuadTech7600高压击穿测试仪(AC0-5kV可调)

5.TrekModel152-1高阻计(测量范围10^3-10^16Ω)

6.MeggerMIT515耐压测试仪(500V/1000V双量程)

7.NetzschDIL402Expedis热机械分析仪(温度相关介电性能测试)

8.SPEAGDAK-12同轴探头系统(800MHz-12GHz微波段测量)

9.TektronixMDO3104混合域示波器(时频域联合分析)

10.FLIRA315红外热像仪(击穿过程温度场监测)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与铜箔胶带介电常数检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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