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曝光略欠检测

  • 原创官网
  • 2025-05-13 16:30:09
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曝光略欠检测概述:曝光略欠检测是评估材料或产品在特定光照条件下性能稳定性的关键环节,涉及光学参数、色差分析及耐久性测试等核心指标。本文依据ASTM、ISO及GB/T标准体系,系统阐述检测项目、方法及设备选型要点,为工业制造与质量控制提供技术支撑。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.照度均匀性:测量表面照度分布差异(≤5%)

2.色温偏差:评估光源色温稳定性(50K)

3.显色指数衰减:RA值下降幅度(ΔRA≤3)

4.光谱功率分布:380-780nm波段匹配度(≥95%)

5.曝光时间误差:定时精度(0.1s/100h)

检测范围

1.光学薄膜:增亮膜/扩散膜/偏光片

2.显示面板:LCD/OLED/Micro-LED模组

3.摄影器材:CMOS传感器/镜头镀膜

4.印刷品:UV油墨/特种纸基材

5.汽车玻璃:HUD投影层/防眩光涂层

检测方法

ASTME275-17紫外线-可见光分光光度法测量规范

ISO3664:2009图像技术与摄影颜色评估标准

GB/T26180-2010彩色液晶显示模块测试方法

IEC60068-2-5环境试验Sa模拟地面太阳辐射

JISZ8720-2012光源颜色测量方法

检测设备

柯尼卡美能达CS-2000A分光辐射亮度计(0.1cd/m分辨率)

爱色丽i1Pro3分光光度仪(双光束光学系统)

横河AQ6374光谱分析仪(350-1750nm波长范围)

远方SPIC-200光谱彩色照度计(CIES026标准)

岛津UV-2600紫外可见分光光度计(积分球附件)

ChromameterCR-400色差计(8/d几何光学结构)

LabsphereLMS-7600太阳模拟器(AM1.5G光谱匹配)

ThermoScientificMultiskanSkyHigh酶标仪(UV-Vis双模式)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与曝光略欠检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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