1.纯度测定:采用非挥发性残留法测定主成分含量(≥99.5%)
2.硫元素含量分析:硫占比范围(55.2%-56.8%)
3.晶体结构表征:XRD分析晶面间距(d值误差≤0.002)
4.粒度分布测试:D50粒径控制在1-5μm区间
5.热稳定性评估:TGA法测定分解温度(≥350℃)
1.催化剂用高纯七硫化二铼粉末(纯度≥99.9%)
2.半导体镀膜前驱体材料(粒径≤3μm)
3.高温润滑剂复合物(Re₂S₇占比30-70%)
4.锂硫电池正极添加剂(硫含量偏差≤0.5%)
5.光电材料单晶样品(晶格常数a=9.840.03)
1.ASTME1584-17电感耦合等离子体发射光谱法测定金属杂质
2.ISO21068-2:2008硫元素化学分析法
3.GB/T23413-2009纳米材料X射线衍射分析方法
4.ISO13320:2020激光衍射法粒度分析通则
5.GB/T33042-2016热重分析法测定分解温度
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:用于晶体结构分析(精度0.0001)
2.PerkinElmerTGA8000热重分析仪:测量分解温度(控温精度0.5℃)
3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:粒径分布测试(量程0.01-3500μm)
4.ThermoScientificiCAPRQICP-MS:痕量元素检测(检出限0.1ppb)
5.BrukerD8ADVANCEXRD系统:多晶相定量分析(角度重复性0.0001)
6.NetzschSTA449F5同步热分析仪:综合热性能测试(升温速率0.01-50K/min)
7.Agilent7900ICP-OES:主量元素测定(波长范围167-785nm)
8.ShimadzuEDX-7000X荧光光谱仪:硫元素快速筛查(精度0.03wt%)
9.MettlerToledoT90滴定仪:化学法验证硫含量(分辨率0.001mL)
10.JEOLJSM-7900F场发射电镜:微观形貌观测(分辨率0.8nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与七硫化二铼检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。