检测项目

1.频率稳定度：0.5ppm/24h（-40℃~+85℃环境）

2.谐波失真度：≤0.1%（基波频率1MHz~100MHz）

3.相位噪声：≤-120dBc/Hz@10kHz偏移（载频10GHz）

4.输出幅度稳定性：0.5dB（负载50Ω1%）

5.温度漂移系数：≤2ppm/℃（-55℃~+125℃温箱测试）

6.启动时间：≤5ms（供电电压12V10%）

检测范围

1.石英晶体振荡器（XO/TCXO/OCXO）

2.压控振荡器（VCO）

3.表面声波振荡器（SAW）

4.MEMS硅基振荡器

5.微波介质谐振振荡器（DRO）

6.锁相环合成信号源（PLL）

检测方法

1.频率稳定度测试：ASTMF1053-2018《微波元件频率稳定性测量规程》

2.相位噪声分析：IEC62047-21:2015《半导体器件-微波测量方法》

3.谐波失真测量：GB/T11461-2013《石英晶体元件参数测试方法》

4.温度特性测试：GJB2138A-2018《军用晶体振荡器通用规范》

5.输出功率校准：JJF1806-2020《射频与微波信号源校准规范》

6.电磁兼容测试：GB/T17626.4-2018《电快速瞬变脉冲群抗扰度试验》

检测设备

1.KeysightN9020BMXA频谱分析仪（频率范围20Hz~26.5GHz）

2.Rohde&SchwarzRTO2044示波器（带宽4GHz,采样率40GS/s）

3.AnritsuMG3647A信号发生器（10MHz~20GHz,相位噪声-136dBc/Hz）

4.Chroma63200A系列程控直流电源（0~600V/0~105A）

5.B&K9018C温度冲击试验箱（-70℃~+180℃,转换时间＜15s）

6.Agilent53132A频率计数器（分辨率0.001Hz,闸门时间1ns~1000s）

7.NIPXIe-5632矢量网络分析仪（300kHz~8.5GHz,S参数测量）

8.TektronixAFG31000任意波形发生器（1μHz~120MHz,16bit分辨率）

9.Fluke8588A参考级万用表（8.5位分辨率,0.0015%基本精度）

10.ESPECSH-642恒温恒湿箱（温控精度0.3℃,湿度范围20%~98%）