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逻辑记录检测

  • 原创官网
  • 2025-05-13 22:26:33
  • 关键字:逻辑记录测试机构,逻辑记录测试范围,逻辑记录测试标准
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逻辑记录检测概述:逻辑记录检测是通过系统化分析电子设备运行数据验证其逻辑完整性的专业技术,重点涵盖信号时序偏差、协议合规性及数据完整性等核心指标。检测过程严格遵循ASTM、ISO及GB/T标准体系,适用于半导体芯片、通信模块及工业控制器等精密电子元件的质量控制与故障诊断。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.信号完整性测试:上升时间(≤100ps)、过冲(≤10%Vpp)、振铃衰减(≥30dB)

2.时序偏差分析:时钟抖动(5ps)、建立保持时间(≥0.8UI)、传播延迟(≤1.2ns)

3.协议一致性验证:帧错误率(≤1E-12)、CRC校验成功率(≥99.999%)、握手响应时间(≤50μs)

4.功耗特性检测:静态漏电流(≤10μA)、动态功耗(≤3mW/MHz)、电压容差(5%)

5.数据完整性校验:误码率(BER≤1E-15)、奇偶校验通过率(100%)、ECC纠错效率(≥99.9%)

检测范围

1.半导体芯片:CPU/GPU逻辑单元、DDR4/5存储控制器、PCIePHY层电路

2.高速PCB:阻抗控制板(100Ω10%)、背板连接器(≤56Gbps)、射频传输线(3dB插损@28GHz)

3.光通信模块:100GQSFP28收发器、相干光DSP芯片、PAM4调制器件

4.工业控制器:PLC逻辑单元、运动控制ASIC、CAN总线接口电路

5.汽车电子:ADAS图像处理器、车载以太网PHY芯片、BMS控制逻辑单元

检测方法

1.ASTMF2595-2018:高速数字信号眼图测试规范

2.ISO/IEC13239:2022:数据链路层协议一致性测试方法

3.GB/T18900-2021:数字集成电路时序特性测量标准

4.JESD209-5B:LPDDR5接口电气验证规程

5.TIA-455-220-C:光模块误码率测试标准流程

检测设备

1.KeysightDSAX96204Q:63GHz实时示波器,支持256GSa/s采样率与PAM4信号分析

2.TektronixBERTScopeBSX280C:56GBaud误码测试仪,集成时钟恢复与抖动注入功能

3.AnritsuMP1900A:32Gbps协议分析仪,支持PCIe5.0/USB4物理层测试

4.Rohde&SchwarzRTP164B:16GHz混合域示波器,配备数字总线触发与解码模块

5.AdvantestT2000:SOC测试系统,集成1024通道数字引脚与1ps时序分辨率

6.NationalInstrumentsPXIe-5164:14位高精度数字化仪,支持多通道同步采集

7.Chroma3380P-200-60:200A大电流源表,用于功率器件动态特性测试

8.FormFactorCM300xi-ULN:探针台系统,支持-55℃~200℃温度环境下的晶圆级测试

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与逻辑记录检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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