静电偏转检测概述:检测项目1.表面电荷密度:测量范围0.1-1000μC/m,精度2%2.静电偏转角度:测试范围0-90,分辨率0.13.电场强度分布:空间分辨率≤1mm,量程0.1-100kV/m4.电荷衰减时间:时间范围1ms-1000s,温度控制0.5℃5.介电常数与电阻率:频率范围10Hz-1MHz,介电常数误差≤3%检测范围1.半导体晶圆及微电子封装材料2.高分子薄膜(PET、PI、PTFE等)3.光学镀膜器件(抗反射涂层、ITO导电玻璃)4.工业防静电包装材料(ESD屏蔽袋、导电泡沫)5.医疗器械用高分子部件(
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1.表面电荷密度:测量范围0.1-1000μC/m,精度2%
2.静电偏转角度:测试范围0-90,分辨率0.1
3.电场强度分布:空间分辨率≤1mm,量程0.1-100kV/m
4.电荷衰减时间:时间范围1ms-1000s,温度控制0.5℃
5.介电常数与电阻率:频率范围10Hz-1MHz,介电常数误差≤3%
1.半导体晶圆及微电子封装材料
2.高分子薄膜(PET、PI、PTFE等)
3.光学镀膜器件(抗反射涂层、ITO导电玻璃)
4.工业防静电包装材料(ESD屏蔽袋、导电泡沫)
5.医疗器械用高分子部件(导管、传感器外壳)
1.ASTMD257-14:绝缘材料直流电阻与电导率标准测试法
2.ISO3915:2021:塑料材料体积电阻率测定方法
3.GB/T1410-2006:固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法
4.IEC61340-2-1:2015:静电现象模拟与测量通用规范
5.GB/T16801-2013:织物静电性能评价方法
1.TrekModel347静电计:高精度表面电位测量(0.05kV)
2.KeyenceST-H系列电场成像系统:二维电场分布可视化分析
3.MonroeElectronicsModel284E电荷衰减测试仪:符合MIL-STD-1686标准
4.AgilentE4980ALCR表:宽频介电性能测试(20Hz-2MHz)
5.Electro-TechSystemsModel803B摩擦起电机:可控摩擦电荷生成装置
6.MitsubishiChemicalSM-20表面电阻测试仪:量程10^3-10^14Ω/sq
7.SimcoIonFG500静电消除器校准装置:离子平衡度5V内验证
8.Keithley6517B静电计/高阻表:10aA电流分辨率测量能力
9.ThermoScientificCAMSIZERP4颗粒分析仪:粉末材料带电特性关联测试
10.OAIModel306ESD静电放电模拟器:接触放电电压30kV可调
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与静电偏转检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。