检测项目

1.体积平均粒径（D[4,3]）：表征颗粒体系的体积加权平均直径

2.数量平均粒径（D[1,0]）：基于粒子数量统计的算术平均值

3.粒径分布跨度：(D90-D10)/D50计算分布宽度指数

4.比表面积测定：基于BET理论的气体吸附法测量

5.球形度分析：通过图像法计算长径比（1.0-2.0）

6.Zeta电位：电泳光散射法测定表面电荷特性

检测范围

1.金属粉末：钛合金/铝合金/铜基粉末（粒度范围0.5-150μm）

2.陶瓷材料：氧化铝/碳化硅/氮化硼粉体（亚微米至毫米级）

3.医药颗粒：API原料药/缓释微球（纳米级至500μm）

4.化工催化剂：分子筛/贵金属载体（介孔-大孔结构）

5.食品添加剂：乳糖/麦芽糊精/二氧化硅（USP标准级）

6.纳米材料：量子点/碳纳米管（1-100nm）

检测方法

ASTMB822-20：金属粉末粒度分布的激光衍射标准方法

ISO13320:2020：粒度分析-激光衍射法通用要求

GB/T19077-2016：粒度分布-激光衍射法国家标准

ISO22412:2017：动态光散射法纳米颗粒测量规范

GB/T19627-2005：粒度分析-光子相关光谱法

ASTME2864-18：扫描电镜图像分析法测量粒度标准

检测设备

马尔文帕纳科Mastersizer3000：0.01-3500μm激光衍射系统（湿法/干法）

贝克曼库尔特LS13320：超声辅助激光衍射仪（含PIDS技术）

布鲁克海文ZetaPALS：Zeta电位及纳米粒度分析仪（1nm-10μm）

岛津SALD-7500nano：紫外激光粒度仪（7nm-800μm）

麦奇克Bettersize2600：全自动激光粒度分析系统（0.02-2600μm）

安捷伦8900ICP-MS：单颗粒模式元素粒径联用系统

日立SU9000FE-SEM：场发射扫描电镜（配合图像分析软件）

麦克ASAP2460：比表面及孔隙度分析仪（0.35-500nm孔径）

富瑞曼FT4粉体流变仪：动态粒度与流动特性联测系统

新帕泰克HELOS系列：气溶胶粒度在线监测系统（符合21CFRPart11）