颗粒平均大小检测概述:检测项目1.体积平均粒径(D[4,3]):表征颗粒体系的体积加权平均直径2.数量平均粒径(D[1,0]):基于粒子数量统计的算术平均值3.粒径分布跨度:(D90-D10)/D50计算分布宽度指数4.比表面积测定:基于BET理论的气体吸附法测量5.球形度分析:通过图像法计算长径比(1.0-2.0)6.Zeta电位:电泳光散射法测定表面电荷特性检测范围1.金属粉末:钛合金/铝合金/铜基粉末(粒度范围0.5-150μm)2.陶瓷材料:氧化铝/碳化硅/氮化硼粉体(亚微米至毫米级)3.医药颗粒:API原料药/缓释微
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1.体积平均粒径(D[4,3]):表征颗粒体系的体积加权平均直径
2.数量平均粒径(D[1,0]):基于粒子数量统计的算术平均值
3.粒径分布跨度:(D90-D10)/D50计算分布宽度指数
4.比表面积测定:基于BET理论的气体吸附法测量
5.球形度分析:通过图像法计算长径比(1.0-2.0)
6.Zeta电位:电泳光散射法测定表面电荷特性
1.金属粉末:钛合金/铝合金/铜基粉末(粒度范围0.5-150μm)
2.陶瓷材料:氧化铝/碳化硅/氮化硼粉体(亚微米至毫米级)
3.医药颗粒:API原料药/缓释微球(纳米级至500μm)
4.化工催化剂:分子筛/贵金属载体(介孔-大孔结构)
5.食品添加剂:乳糖/麦芽糊精/二氧化硅(USP标准级)
6.纳米材料:量子点/碳纳米管(1-100nm)
ASTMB822-20:金属粉末粒度分布的激光衍射标准方法
ISO13320:2020:粒度分析-激光衍射法通用要求
GB/T19077-2016:粒度分布-激光衍射法国家标准
ISO22412:2017:动态光散射法纳米颗粒测量规范
GB/T19627-2005:粒度分析-光子相关光谱法
ASTME2864-18:扫描电镜图像分析法测量粒度标准
马尔文帕纳科Mastersizer3000:0.01-3500μm激光衍射系统(湿法/干法)
贝克曼库尔特LS13320:超声辅助激光衍射仪(含PIDS技术)
布鲁克海文ZetaPALS:Zeta电位及纳米粒度分析仪(1nm-10μm)
岛津SALD-7500nano:紫外激光粒度仪(7nm-800μm)
麦奇克Bettersize2600:全自动激光粒度分析系统(0.02-2600μm)
安捷伦8900ICP-MS:单颗粒模式元素粒径联用系统
日立SU9000FE-SEM:场发射扫描电镜(配合图像分析软件)
麦克ASAP2460:比表面及孔隙度分析仪(0.35-500nm孔径)
富瑞曼FT4粉体流变仪:动态粒度与流动特性联测系统
新帕泰克HELOS系列:气溶胶粒度在线监测系统(符合21CFRPart11)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与颗粒平均大小检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。