四方系晶体检测概述:检测项目1.晶格常数测定:测量a轴与c轴长度(误差≤0.001),计算轴比c/a值(精度0.0005)2.热膨胀系数各向异性测试:测定a轴方向(αa)与c轴方向(αc)的线性膨胀系数(温度范围-196℃~1500℃)3.介电常数张量分析:测量ε11与ε33分量(频率范围1kHz-1MHz),损耗角正切值≤0.0054.晶体缺陷密度检测:位错密度≤10^6/cm,孪晶界面间距测量(分辨率0.1μm)5.压电性能验证:d33系数测量(范围1-600pC/N),机电耦合系数k_t≥0.4检测范围1.电子陶瓷材料
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.晶格常数测定:测量a轴与c轴长度(误差≤0.001),计算轴比c/a值(精度0.0005)
2.热膨胀系数各向异性测试:测定a轴方向(αa)与c轴方向(αc)的线性膨胀系数(温度范围-196℃~1500℃)
3.介电常数张量分析:测量ε11与ε33分量(频率范围1kHz-1MHz),损耗角正切值≤0.005
4.晶体缺陷密度检测:位错密度≤10^6/cm,孪晶界面间距测量(分辨率0.1μm)
5.压电性能验证:d33系数测量(范围1-600pC/N),机电耦合系数k_t≥0.4
1.电子陶瓷材料:钛酸钡(BaTiO3)、铌镁酸铅(PMN-PT)等压电陶瓷
2.光学晶体材料:磷酸二氢钾(KDP)、铌酸锂(LiNbO3)等非线性光学晶体
3.高温结构陶瓷:氧化锆(ZrO2)基相变增韧陶瓷
4.超导材料:YBCO(钇钡铜氧)系高温超导单晶
5.金属间化合物:Ni3Al、TiAl等L10型有序合金
ASTME1426-14:X射线衍射法测定晶格参数
ISO20310:2018:拉曼光谱法表征晶体对称性
GB/T17359-2023:电子探针显微分析(EPMA)成分测定
ISO17561:2021:高温XRD热膨胀系数测试
GB/T11309-2021:压电材料d33系数准静态测量法
RigakuSmartLabX射线衍射仪:配备高温附件(RT-1500),可进行原位结构分析
ZeissSigma500场发射扫描电镜:配备EBSD系统(分辨率≤3nm)
NetzschDIL402C热膨胀仪:温度范围-160℃~1600℃(膨胀量分辨率0.125nm)
AgilentE4990A阻抗分析仪:频率范围20Hz-120MHz(基本精度0.08%)
AntonPaarHTK1200N高温炉:最高温度1600℃(真空度≤510^-6mbar)
BrukerDimensionIcon原子力显微镜:压电响应模式(PRM)分辨率0.1pm
MalvernPanalyticalEmpyreanXRD系统:配备PIXcel3D探测器(角度重复性0.0001)
HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪:空间分辨率≤0.5μm(光谱范围200-1600cm^-1)
Instron5969万能试验机:载荷范围50N-50kN(位移精度0.05%)
Keithley6517B静电计:电流测量下限10^-17A(电压范围0-1000V)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与四方系晶体检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。