检测项目

1.直径偏差：测量珍珠最大/最小直径差（0.1mm精度）

2.珠层厚度：X射线断层扫描测定（分辨率0.01mm）

3.光泽度：60入射角反射光强度测定（GU值范围20-100）

4.表面缺陷：三维显微成像量化分析（＞50μm瑕疵记录）

5.元素成分：ICP-MS检测CaCO₃含量（误差0.5%）

6.密度梯度：浮力法测定（范围2.60-2.85g/cm）

检测范围

1.天然海水珍珠（南洋金珠/大溪地黑珍珠）

2.淡水养殖珍珠（无核/有核培育品）

3.珍珠母贝加工制品（贝壳粉压铸品）

4.染色处理珍珠（化学着色/辐照改色）

5.仿制珍珠（玻璃/塑料镀膜制品）

6.珍珠首饰成品（项链/耳饰镶嵌件）

检测方法

ASTMB925-08珠层厚度X射线测定法

ISO11216:2016珍珠光泽度分级规范

GB/T18781-2008养殖珍珠分级标准

JISH6300:2021珍珠密度测试规程

GB/T38033-2019珍珠饰品中有害物质限量

ISO18323:2015天然与养殖珍珠鉴别指南

检测设备

Mitutoyo千分尺（293-340系列）：直径偏差测量（1μm精度）

BrukerSkyscan1276微型CT：三维珠层结构分析（4μm体素分辨率）

X-RiteMA98多角度分光光度计：动态光泽度测定（8角度同步采集）

OlympusDSX1000数码显微镜：表面缺陷成像（2300万像素CMOS）

PerkinElmerNexION350DICP-MS：痕量元素检测（ppt级检出限）

MettlerToledoXS205密度天平：浮力法密度测定（0.01mg/0.1mg精度）

ThermoScientificDXR3显微拉曼光谱仪：镀层成分鉴别（532nm激光源）

HitachiXGT-7000X荧光光谱仪：主量元素快速筛查（铑靶极细聚焦）

LabsphereUV-2000F紫外老化箱：耐候性测试（0.55W/m@340nm）

Instron5944万能材料试验机：镶嵌牢固度测试（50N载荷传感器）