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双工器的高通部分检测

  • 原创官网
  • 2025-05-19 13:43:10
  • 关键字:双工器的高通部分测试案例,双工器的高通部分测试范围,双工器的高通部分测试周期
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双工器的高通部分检测概述:检测项目1.插入损耗:频率范围1.8-6.0GHz内损耗值≤0.5dB@通带中心频率2.带外抑制:阻带衰减≥60dB@偏离通带100MHz3.驻波比(VSWR):通带内VSWR≤1.5:14.群时延波动:≤2ns@通带全频段5.温度稳定性:-40℃至+85℃环境下频率漂移≤50ppm检测范围1.陶瓷介质双工器(Al₂O₃含量≥96%)2.腔体式金属双工器(铝合金/铜镀银材质)3.LTCC低温共烧陶瓷双工器4.SAW声表面波双工器(石英基片)5.多层PCB微带线双工器(FR4/Rogers4350基材)检测


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.插入损耗:频率范围1.8-6.0GHz内损耗值≤0.5dB@通带中心频率

2.带外抑制:阻带衰减≥60dB@偏离通带100MHz

3.驻波比(VSWR):通带内VSWR≤1.5:1

4.群时延波动:≤2ns@通带全频段

5.温度稳定性:-40℃至+85℃环境下频率漂移≤50ppm

检测范围

1.陶瓷介质双工器(Al₂O₃含量≥96%)

2.腔体式金属双工器(铝合金/铜镀银材质)

3.LTCC低温共烧陶瓷双工器

4.SAW声表面波双工器(石英基片)

5.多层PCB微带线双工器(FR4/Rogers4350基材)

检测方法

1.插入损耗测试:依据GB/T11313.41-2020《射频连接器第41部分》扫频法

2.带外抑制测量:采用ISO/IEC17025:2017校准的频谱分析仪峰值保持模式

3.驻波比校准:ASTMD5568-22微波网络分析仪双端口法

4.温度循环试验:GB/T2423.22-2012环境试验规程Nb类严酷等级

5.相位线性度验证:IEC61169-1-7:2020矢量网络分析仪时域门限法

检测设备

1.KeysightN5224B矢量网络分析仪(10MHz-43.5GHz,S参数测量)

2.R&SFSW67频谱分析仪(最高67GHz分辨率带宽1Hz)

3.ThermotronSM-32C温箱(-70℃至+180℃温度冲击试验)

4.AnritsuML2437A功率计(-70dBm至+20dBm动态范围)

5.Agilent85052D校准套件(3.5mm接口,DC-26.5GHz)

6.E5071C-TDR时域反射计(时域分辨率≤10ps)

7.NSAT-3010自动化测试系统(支持多工位并行测试)

8.FlukePM6681高精度频率计(12位/s采样率)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与双工器的高通部分检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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