超冷中子检测概述:检测项目1.中子通量密度测量:范围110^3~110^8n/cms,误差≤2%2.能谱分布分析:能量分辨率≤0.1meV@5meV3.极化率测定:极化度≥98%,测量精度0.5%4.空间分布成像:位置分辨率≤50μm5.温度相关性测试:温度控制范围0.1~300K检测范围1.核反应堆材料:包括锆合金包壳管、碳化硼控制棒等辐照损伤评估2.半导体器件:硅基/碳化硅基芯片中子辐照效应研究3.超导材料:Nb₃Sn、YBCO等临界电流密度变化分析4.中子光学元件:镍钛多层镜反射率测试5.
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.中子通量密度测量:范围110^3~110^8n/cms,误差≤2%
2.能谱分布分析:能量分辨率≤0.1meV@5meV
3.极化率测定:极化度≥98%,测量精度0.5%
4.空间分布成像:位置分辨率≤50μm
5.温度相关性测试:温度控制范围0.1~300K
1.核反应堆材料:包括锆合金包壳管、碳化硼控制棒等辐照损伤评估
2.半导体器件:硅基/碳化硅基芯片中子辐照效应研究
3.超导材料:Nb₃Sn、YBCO等临界电流密度变化分析
4.中子光学元件:镍钛多层镜反射率测试
5.生物样本:DNA分子链断裂概率统计
ASTME481-2021:热中子与超冷中子通量密度测量规范
ISO8529-3:2022:中子能谱分析技术导则
GB/T16140-2018:液态闪烁体探测器校准方法
GB12714-2018:半导体器件中子辐照试验规程
IEC60544-5:2020:绝缘材料辐照老化评价标准
1.He正比计数器:ModelXYZ-200A(通量密度测量)
2.冷中子飞行时间谱仪:CNTOF-5000(能谱分辨率0.05meV)
3.极化分析系统:PANDA-MkIII(极化效率99.2%)
4.低温恒温器:CryoCon-24B(温控精度10mK)
5.位置灵敏探测器:PSD-3000(空间分辨率30μm)
6.多通道采集系统:MCA-7600(最大采样率1GHz)
7.蒙特卡罗模拟平台:MCNP6.3(输运过程建模)
8.超镜反射率测试仪:SMRT-45(入射角0~90可调)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与超冷中子检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。