检测项目
热电系数（Seebeck系数）：测量范围±2000 μV/K，精度±1%
体积电阻率：测试范围10-6-106 Ω·cm，温度梯度0-500℃
绝缘强度：耐压测试0-5kV AC/DC，泄漏电流＜1mA
热循环稳定性：-196℃（液氮）至300℃循环100次
机械拉伸强度：载荷范围0-10kN，应变速率0.5-50mm/min
尺寸公差：直径检测精度±0.01mm，长度偏差≤±0.5%
老化性能：85℃/85%RH环境持续1000小时测试
检测范围
金属合金型：Bismuth Telluride（Bi2Te3）、铅锑合金
半导体型：硅锗（SiGe）复合材料、碲化铅（PbTe）
氧化物型：氧化锌（ZnO2）、钙钛矿结构材料
高温陶瓷型：硅化镁（Mg2Si）、碳化硅（SiC）基材
柔性薄膜型：聚酰亚胺基底纳米线复合材料
检测方法
ASTM E1225：稳态纵向热流法测定热电系数
IEC 60584-1：热电偶丝材电阻率温度特性测试
GB/T 3048.3：电线电缆电性能试验方法
ISO 6892-1：金属材料拉伸试验标准
ASTM B63：金属导电材料电阻率测定
GB/T 1408.1：绝缘材料电气强度试验
JIS C2526：热电合金丝检测规范
检测设备
KEITHLEY 2450源表：四线法电阻率测量，最大分辨率0.1nΩ·m
LINSEIS LSR-3：热电参数综合测试系统，温差范围±80K
Agilent 4294A阻抗分析仪：频率范围40Hz-110MHz，测试精度0.05%
INSTRON 5967双柱拉力机：最大载荷10kN，位移分辨率0.1μm
ESPEC PCT-312热循环箱：温变速率15℃/min，温度均匀度±0.5℃
OLYMPUS DSX1000数码显微镜：5000倍放大，3D尺寸测量功能
HIOKI ST5520耐压测试仪：5kV耐压检测，绝缘电阻量程1016Ω