可测试性设计检测

检测项目

1.故障覆盖率分析：量化测试方案对潜在缺陷的识别能力（≥95%覆盖率）

2.测试访问机制完整性：验证JTAG/IEEE1149.1接口信号完整性（阻抗≤50Ω10%）

3.边界扫描链诊断：扫描链长度≤1000单元时传输延迟＜10ns

4.在线监测分辨率：模数转换器有效位数≥12bit@1MHz采样率

5.自检功能完备性：上电自检(POST)响应时间≤500ms

检测范围

1.集成电路：SoC芯片/FPGA/BGA封装器件

2.汽车电子：ECU控制模块/车载传感器

3.航空航天：飞控计算机/星载通信单元

4.工业设备：PLC控制器/伺服驱动器

5.医疗仪器：MRI控制板/生命监护模块

检测方法

1.IEEEStd1149.1-2013边界扫描架构验证

2.ISO16750-2:2012道路车辆电气环境适应性测试

3.GB/T15576-2020低压成套开关设备安全要求

4.ASTMF2592-08电子元件加速寿命试验方法

5.IEC61000-4-21:2011电磁兼容混响室测试法

检测设备

1.KeysightDCA-X示波器（带宽65GHz,眼图分析）

2.XJTAGXJEase边界扫描系统（支持FPGA在线编程）

3.TeradyneUltraFLEX测试平台（数字通道数1024）

4.Fluke8846A精密万用表（6位分辨率）

5.Chroma3380电源负载一体机（1200W动态响应）

6.NIPXIe-4139源测量单元（200V/3A输出）

7.TektronixTBS2000B数字存储示波器（70MHz带宽）

8.Agilent34972A数据采集器（22位ADC精度）

9.Rohde&SchwarzCMW500无线综测仪（6GHz射频分析）

10.AdvantestV93000SoC测试系统（256通道并行测试）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"可测试性设计检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。