金属元素残留量:检测范围0.1ppm-10wt%,精度±0.5%(Fe、Al、Cu等15种元素)
非金属氧化物含量:SiO₂、Al₂O₃等检测下限0.01%,XRD相态分析精度±0.2%
有机物残留量:热重分析检测范围0.01-5mg,DTG分辨率0.1μg/℃
水分及挥发分:卡尔费休法检测下限10ppm,恒重法精度±0.0001g
残渣密度分布:氦气比重法测定范围1-20g/cm³,重复性误差≤0.5%
金属合金熔炼渣(铝合金、镁合金、铜基合金)
高分子材料热解残留物(工程塑料、橡胶制品)
陶瓷烧结残余物(氧化物陶瓷、氮化物陶瓷)
电子元件封装材料(环氧树脂、硅胶封装体)
工业催化剂失活残留(贵金属催化剂、分子筛)
ICP-OES法:ASTM E1479-16标准,轴向观测模式,同步背景校正技术
X射线荧光光谱法:ISO 21079-3:2008标准,Rh靶X光管,晶体分光系统
热重-差热联用:ASTM E1131-20标准,动态氮气氛围,10℃/min程序升温
库仑法水分测定:ISO 760:2022标准,双铂电极体系,电解电流分辨率0.1μA
气体置换密度法:ASTM B923-22标准,10cm³样品池,压力扫描精度±0.01kPa
Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES:轴向观测系统,固态检测器波长范围165-852nm
Bruker S8 TIGER XRF光谱仪:4kW Rh靶X光管,HDD探测器能量分辨率<140eV
Mettler Toledo TGA/DSC 3+:0.1μg称重灵敏度,-150-1600℃温度范围
Metrohm 917 Coulometer:双极化电极技术,0.1-250mg水分检测范围
Micromeritics Ultrapyc 5000:10nm分辨率压力传感器,全自动气体控制系统
获CNAS(CNAS 详情请咨询工程师5)和CMA(2019123456ABCD)双认证资质
配置四级杆-飞行时间质谱(Q-TOF MS)联用系统,实现痕量成分结构解析
建立材料残渣数据库,包含5000+种标准物质谱图比对功能
配备Class 100洁净实验室环境,满足半导体级检测需求
检测团队持有ISTA材料分析高级认证,年均完成2000+检测案例
以上是与熔析残渣检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。