锗光电元件检测概述:检测项目1.光谱响应范围:测量波长400-1800nm范围内的响应度(A/W),精度2%2.暗电流特性:在反向偏压1-10V条件下测试漏电流(nA级),温度控制0.5℃3.量子效率:计算400-1600nm波段内光子-电子转换效率(%),重复性误差≤1.5%4.响应时间:测定上升时间(10%-90%)和下降时间(90%-10%),分辨率1ns5.抗损伤阈值:激光辐照功率密度测试(W/cm),依据ISO21254-1:2011标准检测范围1.锗光电二极管(Ge-PIN/APD)2.红外焦平面阵列探测器3.激
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.光谱响应范围:测量波长400-1800nm范围内的响应度(A/W),精度2%
2.暗电流特性:在反向偏压1-10V条件下测试漏电流(nA级),温度控制0.5℃
3.量子效率:计算400-1600nm波段内光子-电子转换效率(%),重复性误差≤1.5%
4.响应时间:测定上升时间(10%-90%)和下降时间(90%-10%),分辨率1ns
5.抗损伤阈值:激光辐照功率密度测试(W/cm),依据ISO21254-1:2011标准
1.锗光电二极管(Ge-PIN/APD)
2.红外焦平面阵列探测器
3.激光光学窗口片(厚度0.5-10mm)
4.热成像仪锗透镜组件
5.光纤通信用锗基光接收模块
1.ASTME1028-15半导体材料光谱响应测试规程
2.ISO4892-3:2016光电元件环境试验方法
3.GB/T15651.2-2021半导体器件机械和气候试验方法
4.IEC60747-5-3:2020光电子器件测试标准
5.GB/T18904.3-2022光电子器件可靠性试验程序
1.Keithley2636B源表:暗电流与I-V特性测试,分辨率0.1fA
2.OceanOpticsHR4000光谱仪:200-2500nm光谱分析,光学分辨率0.2nm
3.AgilentB1500A半导体分析仪:纳秒级瞬态响应测试
4.LabsphereLMS-7600积分球:量子效率绝对测量系统
5.Newport818系列光功率计:波长范围400-1800nm,精度0.5%
6.ThermoScientificLN₂低温恒温器:77K-300K变温测试系统
7.OphirPE50BF-DIF-HP激光损伤测试仪:最大功率500W/cm
8.BrukerDektakXT轮廓仪:表面粗糙度Ra≤5nm测量
9.KeysightN5227A网络分析仪:10MHz-67GHz高频特性分析
10.ZeissAxioImager.M2m金相显微镜:500倍缺陷观测系统
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与锗光电元件检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。