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组合逻辑检测

  • 原创官网
  • 2025-05-15 01:48:13
  • 关键字:组合逻辑测试标准,组合逻辑测试机构,组合逻辑测试周期
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组合逻辑检测概述:检测项目1.传输延迟时间:测量信号从输入到输出的传播时间(典型范围0.1-15ns),包括上升沿延迟(tPLH)与下降沿延迟(tPHL)2.静态功耗电流:待机状态下漏电流检测(μA级精度),测试条件VCC=5V10%3.动态功耗特性:开关瞬态电流峰值(mA级测量),频率范围1MHz-100MHz4.噪声容限测试:高低电平噪声抗扰度(VILmax/VIHmin),电压分辨率10mV5.负载驱动能力:最大扇出系数测试(典型值4-10个标准负载)6.温度特性验证:-55℃~125℃工作温度范围内的功能稳定性检测


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☌ 询价

检测项目

1.传输延迟时间:测量信号从输入到输出的传播时间(典型范围0.1-15ns),包括上升沿延迟(tPLH)与下降沿延迟(tPHL)

2.静态功耗电流:待机状态下漏电流检测(μA级精度),测试条件VCC=5V10%

3.动态功耗特性:开关瞬态电流峰值(mA级测量),频率范围1MHz-100MHz

4.噪声容限测试:高低电平噪声抗扰度(VILmax/VIHmin),电压分辨率10mV

5.负载驱动能力:最大扇出系数测试(典型值4-10个标准负载)

6.温度特性验证:-55℃~125℃工作温度范围内的功能稳定性

检测范围

1.CMOS/TTL系列数字集成电路(74HC系列、4000系列等)

2.FPGA/CPLD可编程逻辑器件(Xilinx7系列、AlteraMAX10等)

3.ASIC芯片的逻辑功能模块

4.工业控制器I/O接口电路

5.汽车电子ECU单元中的组合逻辑电路

6.航天级抗辐射加固逻辑器件

检测方法

1.时序特性测试:依据GB/T17574-2021《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》第4.3节

2.功耗测量:采用IEEE1620-2008标准中的静态/动态电流测试规程

3.噪声容限验证:参照JESD78D_IClatch-up测试标准扩展方法

4.温度循环测试:执行GJB548B-2005方法1010.1温度特性试验程序

5.信号完整性分析:基于IEC61967-4标准进行传导发射测量

6.故障覆盖率测试:应用ISO26262:2018中组合逻辑的故障注入方法

检测设备

1.KeysightInfiniiVisionMSOX4104A示波器:4GHz带宽,16通道逻辑分析模块

2.TektronixPG3A-MPatternGenerator:1.6Gbps数据速率,256M存储深度

3.AdvantestT6391A功率分析仪:nA级电流分辨率,10MHz采样率

4.Chroma3380PXI数模混合测试系统:支持J750级别数字IC测试

5.Fluke8846A精密万用表:6位分辨率,0.002%直流精度

6.ESPECSH-642热冲击试验箱:-70℃~+180℃温变速率15℃/min

7.R&SFSW67信号分析仪:26.5GHz频率范围,160MHz分析带宽

8.XJTAGXVC-PCIE边界扫描测试仪:支持IEEE1149.1/1149.6协议验证

9.NIPXIe-6570数字波形仪器:100MHz矢量速率,256通道并行测试

10.AgilentN6705B模块化电源系统:4路独立输出,20bit电压编程精度

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与组合逻辑检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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