组合逻辑检测概述:检测项目1.传输延迟时间:测量信号从输入到输出的传播时间(典型范围0.1-15ns),包括上升沿延迟(tPLH)与下降沿延迟(tPHL)2.静态功耗电流:待机状态下漏电流检测(μA级精度),测试条件VCC=5V10%3.动态功耗特性:开关瞬态电流峰值(mA级测量),频率范围1MHz-100MHz4.噪声容限测试:高低电平噪声抗扰度(VILmax/VIHmin),电压分辨率10mV5.负载驱动能力:最大扇出系数测试(典型值4-10个标准负载)6.温度特性验证:-55℃~125℃工作温度范围内的功能稳定性检测
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.传输延迟时间:测量信号从输入到输出的传播时间(典型范围0.1-15ns),包括上升沿延迟(tPLH)与下降沿延迟(tPHL)
2.静态功耗电流:待机状态下漏电流检测(μA级精度),测试条件VCC=5V10%
3.动态功耗特性:开关瞬态电流峰值(mA级测量),频率范围1MHz-100MHz
4.噪声容限测试:高低电平噪声抗扰度(VILmax/VIHmin),电压分辨率10mV
5.负载驱动能力:最大扇出系数测试(典型值4-10个标准负载)
6.温度特性验证:-55℃~125℃工作温度范围内的功能稳定性
1.CMOS/TTL系列数字集成电路(74HC系列、4000系列等)
2.FPGA/CPLD可编程逻辑器件(Xilinx7系列、AlteraMAX10等)
3.ASIC芯片的逻辑功能模块
4.工业控制器I/O接口电路
5.汽车电子ECU单元中的组合逻辑电路
6.航天级抗辐射加固逻辑器件
1.时序特性测试:依据GB/T17574-2021《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》第4.3节
2.功耗测量:采用IEEE1620-2008标准中的静态/动态电流测试规程
3.噪声容限验证:参照JESD78D_IClatch-up测试标准扩展方法
4.温度循环测试:执行GJB548B-2005方法1010.1温度特性试验程序
5.信号完整性分析:基于IEC61967-4标准进行传导发射测量
6.故障覆盖率测试:应用ISO26262:2018中组合逻辑的故障注入方法
1.KeysightInfiniiVisionMSOX4104A示波器:4GHz带宽,16通道逻辑分析模块
2.TektronixPG3A-MPatternGenerator:1.6Gbps数据速率,256M存储深度
3.AdvantestT6391A功率分析仪:nA级电流分辨率,10MHz采样率
4.Chroma3380PXI数模混合测试系统:支持J750级别数字IC测试
5.Fluke8846A精密万用表:6位分辨率,0.002%直流精度
6.ESPECSH-642热冲击试验箱:-70℃~+180℃温变速率15℃/min
7.R&SFSW67信号分析仪:26.5GHz频率范围,160MHz分析带宽
8.XJTAGXVC-PCIE边界扫描测试仪:支持IEEE1149.1/1149.6协议验证
9.NIPXIe-6570数字波形仪器:100MHz矢量速率,256通道并行测试
10.AgilentN6705B模块化电源系统:4路独立输出,20bit电压编程精度
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与组合逻辑检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。