锡突检测概述:检测项目1.锡突高度测量:采用激光轮廓仪检测0.1-0.5mm范围内的突起高度偏差2.直径分布分析:通过光学显微镜测定0.05-0.3mm直径区间的离散度3.表面形貌扫描:使用3D共聚焦显微镜获取Ra≤1.6μm的表面粗糙度数据4.元素成分测试:X射线荧光光谱仪(XRF)分析Sn含量≥96%的合金纯度5.结合强度验证:微力试验机执行0.5-5N范围的剥离力测试检测范围1.SMT贴片元件:包括QFP、QFN等封装器件的焊点质量评估2.BGA封装器件:针对0.3mm间距以下的微焊球阵列检测3.PCB板焊接点:
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.锡突高度测量:采用激光轮廓仪检测0.1-0.5mm范围内的突起高度偏差
2.直径分布分析:通过光学显微镜测定0.05-0.3mm直径区间的离散度
3.表面形貌扫描:使用3D共聚焦显微镜获取Ra≤1.6μm的表面粗糙度数据
4.元素成分测试:X射线荧光光谱仪(XRF)分析Sn含量≥96%的合金纯度
5.结合强度验证:微力试验机执行0.5-5N范围的剥离力测试
1.SMT贴片元件:包括QFP、QFN等封装器件的焊点质量评估
2.BGA封装器件:针对0.3mm间距以下的微焊球阵列检测
3.PCB板焊接点:覆盖FR4基材与高频板材的焊盘质量检验
4.连接器端子:USBType-C等高速接口的镀层结合力测试
5.功率模块组件:IGBT模块中≥200μm焊层的可靠性验证
1.ASTMB809-95:金属镀层孔隙率测试标准(适用结合强度评估)
2.ISO9455-10:软钎焊剂试验方法(用于残留物成分分析)
3.GB/T11327:印制板镀覆层厚度测量规范(XRF法)
4.IPC-A-610H:电子组装可接受性标准(外观缺陷判定依据)
5.GB/T2423.34:环境试验Z/AD复合温度试验方法(可靠性验证)
1.KeyenceVR-3200三维激光扫描仪:分辨率0.1μm的形貌重建系统
2.OlympusDSX1000数码显微镜:配备20-7000倍连续变倍光学系统
3.ThermoFisherNitonXL5XRF光谱仪:可检测Sn/Pb/Ag等元素成分
4.Instron5948微力试验机:0.001-500N量程的力学测试平台
5.NordsonDAGEXD7600X-ray系统:分辨率<1μm的缺陷透视设备
6.ZEISSAxioImagerM2m金相显微镜:带EDS能谱分析的显微系统
7.Agilent5500AFM原子力显微镜:纳米级表面粗糙度测量装置
8.HitachiSU5000电镜系统:15kV加速电压下的微观结构观测
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与锡突检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。