晶体结构学检测概述:检测项目1.晶格常数测定:精度0.0001,涵盖立方/六方/正交晶系参数计算2.物相定性定量分析:检出限≤0.5wt%,匹配ICDD-PDF4+数据库3.晶粒尺寸计算:基于Scherrer公式与Williamson-Hall法修正4.残余应力测试:ψ角扫描范围0-90,误差10MPa5.织构系数测定:极图采集步长5,ODF重构级数Lmax=22检测范围1.金属及合金材料:包括铝合金TC4、不锈钢316L等轧制/铸造产品2.无机非金属材料:涵盖α-Al₂O₃陶瓷、YAG激光晶体等烧结体3.高分子结晶材料:如
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.晶格常数测定:精度0.0001,涵盖立方/六方/正交晶系参数计算
2.物相定性定量分析:检出限≤0.5wt%,匹配ICDD-PDF4+数据库
3.晶粒尺寸计算:基于Scherrer公式与Williamson-Hall法修正
4.残余应力测试:ψ角扫描范围0-90,误差10MPa
5.织构系数测定:极图采集步长5,ODF重构级数Lmax=22
1.金属及合金材料:包括铝合金TC4、不锈钢316L等轧制/铸造产品
2.无机非金属材料:涵盖α-Al₂O₃陶瓷、YAG激光晶体等烧结体
3.高分子结晶材料:如PET薄膜、UHMWPE纤维等半结晶聚合物
4.纳米粉体材料:粒径分布10-100nm的TiO₂、ZnO等功能性粉体
5.半导体外延片:GaN/SiC异质结薄膜的结晶质量评估
ASTME975-20金属材料残余应力X射线测定标准
ISO20203:2005铝炭材料X射线定量相分析规程
GB/T8362-2018钢中残余奥氏体定量测定方法
ASTMD5380-21聚合物结晶度广角X射线散射法
GB/T36082-2018纳米材料X射线衍射表征技术规范
RigakuSmartLabX射线衍射仪:配备9kW旋转靶,可实现θ-2θ联动扫描
BrukerD8ADVANCE衍射系统:配置LYNXEYEXE-T探测器,角度分辨率0.0001
JEOLJEM-2100Plus透射电镜:点分辨率0.19nm,配备NanomegasASTAR系统
OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器:采集速度3000点/秒,空间分辨率3nm
MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平台:配置PIXcel3D探测器及高温附件
ThermoFisherARLEQUINOX100X射线仪:采用微焦斑光源,适合小样品分析
ShimadzuXRD-7000衍射仪:配备石墨单色器,Cu靶Kα辐射波长1.5406
BrukerD2PHASER台式衍射仪:Theta-Theta测角仪设计,最大功率30kV/10mA
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与晶体结构学检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。