检测项目

1.晶粒尺寸分布：测量范围10-500nm，分辨率2nm

2.结晶度测定：非晶相含量检测精度0.5%

3.晶格畸变率：测量精度达0.01%，范围0.1%-5%

4.择优取向分析：极密度测定误差≤3%

5.晶界能计算：界面能测量范围0.5-3.0J/m

检测范围

1.金属合金：钛基高温合金、镍基单晶叶片

2.半导体材料：GaN外延层、SiC衬底

3.纳米陶瓷：氧化锆增韧陶瓷、碳化硅复合材料

4.功能薄膜：光伏用CIGS薄膜、磁控溅射硬质涂层

5.催化剂载体：铂/碳纳米管复合材料、分子筛催化剂

检测方法

1.X射线衍射法：ASTME112-13《平均晶粒度测定》、GB/T13298-2015《金属显微组织检验方法》

2.电子背散射衍射：ISO16700:2016《微束分析-扫描电镜校准》

3.透射电子显微术：GB/T23414-2021《微束分析术语》

4.小角X射线散射：ISO17867:2020《颗粒体系小角散射数据分析》

5.拉曼光谱法：ASTME1840-96(2014)《拉曼光谱仪校准规范》

检测设备

1.FEITecnaiG2F20透射电镜：配备双倾样品台，可实现0.14nm点分辨率

2.MalvernZetasizerNanoZSP：动态光散射仪，粒径测量下限1nm

3.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：配备Euleriancradle测角仪

4.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器：空间分辨率优于5nm

5.JEOLJEM-ARM300F球差校正电镜：信息分辨率达0.08nm

6.RigakuSmartLabX射线衍射系统：配备高灵敏度HyPix-3000探测器

7.ZeissSigma500场发射扫描电镜：二次电子分辨率0.8nm@15kV

8.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪：光谱分辨率0.35cm⁻

9.AntonPaarSAXSessmc小角散射仪：q范围0.06-30nm⁻

10.AgilentCary630FTIR红外光谱仪：配备ATR附件及显微镜模块

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与超微结晶检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。