检测项目
磁化率测定：测量范围-10⁻⁶至10⁻⁸ SI单位，精度±0.5%
磁场强度响应：测试范围0.1 Oe至20 kOe，分辨率1 μOe
温度依赖性分析：温控范围-269℃至300℃，步进精度±0.1℃
各向异性测试：三维磁场扫描，角度分辨率0.1°
动态磁滞回线：频率范围DC-100 kHz，采样率1 MS/s
检测范围
纯金属材料：铜、银、铋等元素晶体
合金体系：铜镍合金、铋锑合金等
无机非金属：石墨、熔融石英、硫化锌
高分子复合材料：碳纤维增强塑料、纳米掺杂聚合物
超导材料：低温超导体（NbTi）、高温超导氧化物（YBCO）
检测方法
ASTM A342：低磁导率材料测试标准（DC法）
ISO 2178：非磁性金属镀层厚度测量
GB/T 19468：抗磁性材料磁化率测定方法
IEC 60404-15：超导材料磁性能测试规范
GB 11297.11：光学材料磁光效应检测规程
检测设备
振动样品磁强计（VSM）：型号Lake Shore 7407，量程±3 T，灵敏度10⁻⁸ emu
超导量子干涉仪（SQUID）：Quantum Design MPMS3，温度范围1.9-400 K
交变梯度磁强计：AGM2900，磁场分辨率0.1 Oe，最大场强2 T
磁光克尔显微镜：NanoMOKE3，空间分辨率500 nm
脉冲磁场发生器：HMF-3000，峰值场强60 T，脉宽15 ms