检测项目
接触电阻测试：初始电阻≤50μΩ，老化后变化率≤20%
机械寿命测试：开闭循环次数≥10万次，负载电流10A-1000A
温升特性检测：额定电流下温升≤55K，极限电流耐受时间≥30min
电弧侵蚀分析：电弧能量≤5J/次，质量损失率≤0.1mg/千次
材料硬度测试：维氏硬度HV 80-120，镀层厚度10-50μm
检测范围
银基合金触头（Ag/SnO₂、Ag/Ni）
铜基复合材料（Cu/Cr、Cu/W）
贵金属镀层触头（Au、Pd合金镀层）
真空断路器触头（Cu-Bi系列）
低压电器触头（AgC、AgZnO）
检测方法
接触电阻测试：ASTM B539、GB/T 5587
机械寿命测试：IEC 62626、GB/T 5584.2
温升试验：IEC 60439、GB/T 14048.1
电弧特性分析：ASTM B887、GB/T 5169.11
材料成分检测：ISO 11876、GB/T 17473.5
检测设备
Keysight 34420A微欧计：接触电阻测量，分辨率0.01μΩ
Schunk SFL系列高速寿命试验机：机械寿命测试，最大频率20Hz
Fluke Ti480 Pro红外热像仪：温升监测，热灵敏度≤0.03℃
AMETEK ArcChamber-300：电弧侵蚀模拟，电流范围10A-3kA
Mitutoyo HM-200硬度计：维氏硬度测试，载荷范围10gf-1kgf