检测项目
1.汞含量测定：采用重量法或原子吸收光谱法（AAS），检测范围45%-55%（wt%）
2.金属杂质分析：通过ICP-OES测定铜、银、锌等元素含量（检出限0.001-0.1ppm）
3.粒径分布测试：激光粒度仪测量颗粒D50值（1-50μm）及均匀性指数（PDI≤0.3）
4.密度测定：比重瓶法验证材料密度（12.5-14.5g/cm）
5.热稳定性测试：差示扫描量热仪（DSC）分析相变温度（-38℃至150℃）
检测范围
1.牙科用汞齐合金材料（ISO24234认证产品）
2.工业级汞齐电极材料（含Ag-Hg/Cu-Hg体系）
3.电子器件封装用低汞合金（Hg含量≤5%）
4.废弃汞齐回收处理物（含固体残渣及液态分离物）
5.贵金属精炼中间产物（金汞齐/银汞齐混合物）
检测方法
1.ASTME2941-21《汞及汞合金中汞含量的标准测试方法》
2.ISO15237:2016《金属矿物中汞的测定—冷蒸气原子吸收光谱法》
3.GB/T25934.3-2010《高纯金化学分析方法第3部分：ICP-MS法测定杂质元素》
4.ISO13320:2020《粒度分析—激光衍射法通则》
5.GB/T1429-2022《贵金属及其合金材料密度测试方法》
检测设备
1.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：多元素同步分析（检出限0.1ppb）
2.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪：冷蒸气法测汞专用模块
3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm
4.MettlerToledoDSC3差示扫描量热仪：温度精度0.1℃
5.QuantachromeUltrapyc5000真密度仪：氦气置换法测密度
6.Agilent7900ICP-MS：痕量元素分析（检出限达ppt级）
7.ShimadzuEDX-7000X射线荧光光谱仪：无损成分筛查
8.Metrohm888Titrando自动电位滴定仪：氯离子含量测定
9.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：物相结构鉴定
10.SartoriusCPA225D电子天平：称量精度0.01mg