检测项目
1. 碳元素含量测定：纯度≥99%，氧含量≤0.5%（EDS/XPS）
2. 层数分布分析：单层率≥95%，平均层数≤3层（拉曼光谱/原子力显微镜）
3. 缺陷密度评估：ID/IG比值0.1-1.2（拉曼D峰/G峰强度比）
4. 比表面积测试：500-2630 m²/g（BET氮气吸附法）
5. 电导率测量：10³-10⁶ S/m（四探针法/霍尔效应测试）
检测范围
1. 氧化还原法制备石墨烯粉末
2. CVD生长石墨烯薄膜材料
3. 石墨烯/聚合物复合材料
4. 石墨烯导电浆料
5. 功能化石墨烯衍生物（如氮掺杂石墨烯）
检测方法
1. ISO/TS 21356-1:2021 纳米技术-石墨烯特性-第1部分：拉曼光谱层数分析
2. ASTM D8188-22 石墨烯薄片缺陷密度测试规程
3. GB/T 30544.5-2019 纳米科技术语第5部分：石墨烯表征
4. ISO 20904:2020 X射线光电子能谱法测定表面官能团
5. GB/T 38389-2019 石墨烯材料电导率测试方法
检测设备
1. HORIBA LabRAM HR Evolution拉曼光谱仪：层数与缺陷分析
2. Thermo Scientific K-Alpha X射线光电子能谱仪：表面元素与官能团测定
3. Bruker Dimension Icon原子力显微镜：三维形貌与厚度测量
4. Quantachrome Autosorb-iQ全自动比表面分析仪：BET比表面积测试
5. Keysight B1500A半导体参数分析仪：电学性能表征
6. Malvern Zetasizer Nano ZSP纳米粒度仪：分散液粒径分布测试
7. Hitachi SU8220场发射扫描电镜：微观形貌观测
8. Netzsch STA 449 F5同步热分析仪：热稳定性评估
9. Agilent Cary 7000紫外可见近红外分光光度计：光学透过率测定
10. Four Dimensions M91霍尔效应测试系统：载流子浓度与迁移率分析