检测项目

1.金属粒子粒径分布：测量范围0.1-500μm，采用激光散射法测定D10/D50/D90值

2.元素含量分析：包括Cu、Ni、Fe、Co等主量元素（精度0.01wt%）及As、Pb等微量杂质（检出限0.001wt%）

3.形貌特征表征：表面粗糙度Ra≤0.05μm，晶界清晰度≥90%成像对比度

4.密度测定：真密度测试范围2.5-8.5g/cm（氦气置换法）

5.表面氧化层厚度：XPS深度剖析（分辨率0.1nm）

检测范围

1.铜冶炼中间产物：铜锍（Cu2S-FeS系）及其衍生物

2.镍基合金前驱体：镍锍（Ni3S2-FeS）体系材料

3.贵金属富集相：含Au/Ag/Pt族元素的复合硫化物

4.铅锌冶炼渣：PbS-ZnS共晶体系产物

5.复杂多金属锍：含Cu-Ni-Co-Fe的多组分硫化物

检测方法

ASTME1226-19《金属粉末粒度分布的激光衍射测定》

ISO4497:2020《金属粉末-费氏法测定表观密度》

GB/T223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法还原型硅钼酸盐光度法测定酸溶硅含量》

ISO14703:2023《精细陶瓷(高级陶瓷,高级工业陶瓷)-扫描电子显微镜法测定晶粒尺寸》

GB/T19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》

检测设备

MalvernMastersizer3000：激光粒度分析仪（测量范围0.01-3500μm）

ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：电感耦合等离子体发射光谱仪（检出限ppb级）

ZeissSigma500场发射扫描电镜：分辨率0.8nm@15kV（配备EDS能谱仪）

MicromeriticsAccuPycII1340：全自动气体置换密度仪（精度0.03%）

BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：Cu靶Kα辐射（2θ范围3-160）

PerkinElmerSTA8000同步热分析仪：TG-DSC联用（温度范围RT-1500℃）

KratosAXISSupraXPS系统：单色AlKα源（能量分辨率<0.5eV）

Agilent7900ICP-MS：三重四极杆质谱仪（检出限ppt级）

BrukerContourGT-K光学轮廓仪：垂直分辨率0.1nm（三维形貌重建）

HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪：空间分辨率<1μm（532/633/785nm多波长可选）