检测项目

1.成分分析:测定Ag含量(≥99.95%)、杂质元素(Cu≤0.02%、Pb≤0.001%、Bi≤0.002%)

2.维氏硬度测试:载荷范围0.3-50kgf,精度1.5%HV

3.表面粗糙度:Ra≤0.8μm(接触式测量),Sa≤1.2μm(非接触式测量)

4.电导率测试:IACS≥105%(20℃恒温环境)

5.晶粒度评级:ASTME112标准下晶粒尺寸≤50μm

检测范围

1.高纯银压延板材(厚度0.05-5mm)

2.银基复合电接触材料(Ag/CuO,Ag/Ni等)

3.真空镀膜银靶材(纯度≥99.99%)

4.精密仪器导电滑环组件

5.核工业用银镉控制棒包覆层

检测方法

GB/T15072.1-2023《贵金属合金化学分析方法》

ASTME384-22微压痕硬度标准试验方法

ISO4287:2023表面结构轮廓法测量规范

GB/T3048.2-2007电线电缆电性能试验方法

ASTME112-13平均晶粒度测定标准指南

检测设备

1.X射线荧光光谱仪(XGT-9000):元素分析精度0.01%

2.全自动显微硬度计(HMV-G21ST):最大载荷1kgf,光学分辨率0.1μm

3.白光干涉仪(ContourGT-X8):垂直分辨率0.1nm

4.四探针电阻测试仪(RTS-9):测量范围10-6~105Ωcm

5.场发射扫描电镜(SU5000):二次电子分辨率1.0nm@15kV

6.ICP-MS质谱仪(NexION2000):检出限≤0.1ppb

7.恒电位仪(PARSTAT4000A):极化扫描速率0.001mV/s~10V/s

8.激光导热仪(LFA467HyperFlash):温度范围-120~500℃

9.X射线衍射仪(D8ADVANCE):角度重复性0.0001

10.盐雾试验箱(CCT-1100):温度波动度1℃/h