检测项目

1.粒度分布:D10/D50/D90值测定(0.1-1000μm范围),跨度指数计算

2.比表面积:BET法测定(0.01-2000m/g),孔隙率分析

3.热稳定性:TGA法测定分解温度(50-1500℃),失重速率分析

4.元素组成:XRF/ICP-OES测定主量元素(ppm级精度)

5.晶体结构:XRD半定量分析非晶相含量(>95%精度)

检测范围

1.金属基非晶合金粉末(Fe基/Zr基/Co基体系)

2.陶瓷前驱体溶胶凝胶粉末(SiO₂/Al₂O₃/ZrO₂体系)

3.高分子聚合物微粉(聚酰亚胺/聚醚醚酮/聚苯硫醚)

4.药物活性成分无定形分散体(API含量20-80%)

5.锂离子电池负极硅碳复合粉体(粒径≤50μm)

检测方法

1.ASTMB822-20激光衍射法粒度分析标准

2.ISO9277:2010BET氮吸附比表面测试规范

3.GB/T19421-2022差示扫描量热法测定玻璃化转变温度

4.GB/T13390-2008X射线荧光光谱通则

5.ISO16258-1:2015工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅测定

检测设备

1.马尔文Mastersizer3000:激光粒度仪(0.01-3500μm)

2.麦克仪器TriStarIIPlus:全自动比表面及孔隙度分析仪

3.梅特勒TGA/DSC3+:同步热分析仪(1600℃)

4.布鲁克D8ADVANCE:X射线衍射仪(Cu靶,40kV)

5.赛默飞iCAPPRO:电感耦合等离子体发射光谱仪

6.岛津EDX-8000:能量色散X射线荧光光谱仪

7.安捷伦Cary630:傅里叶变换红外光谱仪

8.QuantachromeAutosorb-iQ:化学吸附分析仪

9.日立SU5000:场发射扫描电镜(1nm分辨率)

10.MalvernZetasizerNanoZS:纳米粒度及Zeta电位仪