检测项目

纯度检测:硫酸铷主含量(≥99.5%)

重金属检测:铅(Pb≤5 ppm)、镉(Cd≤5 ppm)、汞(Hg≤1 ppm)

水分含量:游离水(≤0.2%)、结晶水(理论值±0.5%)

粒度分布:D50(1-10 μm)、D90(≤20 μm)

pH值检测:1%水溶液(5.0-7.0)

检测范围

电子材料:半导体掺杂剂、压电晶体

化工催化剂:有机合成反应催化剂载体

光学玻璃:高折射率玻璃添加剂

医药中间体:放射性药物制备原料

化学试剂:分析纯及以上级别试剂

检测方法

ICP-OES法(ASTM E1479):重金属元素定量分析

热重分析法(GB/T 4497):水分及热稳定性检测

X射线衍射法(ISO 15901):晶体结构验证

激光粒度分析(ISO 13320):粒径分布测定

电位滴定法(GB/T 9724):pH值精确测定

检测设备

Agilent 5110 ICP-OES:多元素同步检测,检出限0.01 ppm

Malvern Mastersizer 3000:0.01-3500 μm粒度分析

Mettler Toledo TGA/DSC 3+:0.1 μg级热重分析

Rigaku SmartLab X射线衍射仪:0.0001°角度分辨率

Mettler Toledo SevenExcellence pH计:±0.001 pH精度