检测项目
化学成分分析（FeO≤0.5%、SiO₂≥98.5%、Al₂O₃波动±0.3%）
物相结构表征（晶型纯度＞99%、晶粒尺寸50-200nm）
热重分析（失重率＜1%@800℃）
比表面积测定（BET法1-50m²/g）
粒径分布测试（D50值0.5-10μm）
电化学性能（阻抗值≤100Ω·cm²）
检测范围
金属合金：不锈钢/铝合金表面氧化层
陶瓷材料：氧化铝/氧化锆基体
催化剂载体：分子筛/活性氧化铝
电子元件：铁氧体磁芯/半导体封装材料
建筑材料：玻璃熔块/耐火砖原料
检测方法
X射线衍射法（ISO 20203:2016/GB/T 23413-2009）
电感耦合等离子体发射光谱法（ASTM E1479-16/GB/T 20975.25-2020）
热重-差示扫描量热联用法（ISO 11358:2022/GB/T 27761-2011）
氮气吸附脱附法（ASTM D3663-20/GB/T 19587-2017）
激光粒度分析法（ISO 13320:2020/GB/T 19077-2016）
检测设备
X射线衍射仪：PANalytical X'Pert3 Powder（物相结构分析）
等离子体光谱仪：PerkinElmer Avio 550 Max（元素定量分析）
同步热分析仪：NETZSCH STA 449 F5 Jupiter（热稳定性测试）
比表面分析仪：Micromeritics ASAP 2460（孔隙结构表征）
激光粒度仪：Malvern Mastersizer 3000（粒径分布测定）