检测项目
1.主成分含量测定：二氯化铟（InCl₂）纯度≥99.9%，采用差减法计算非挥发性杂质总量
2.氯离子比例分析：Cl/In摩尔比控制在1.95-2.05区间，电位滴定法误差≤0.3%
3.痕量金属杂质检测：Fe≤50ppm、Cu≤20ppm、Pb≤10ppm（ICP-MS法检出限0.1ppm）
4.结晶水含量测试：105℃恒重失重率≤0.5%（GB/T6284-2016）
5.热稳定性评估：TG-DSC联用分析200℃内质量损失≤1.5%
检测范围
1.高纯电子级二氯化铟（纯度≥99.99%）用于半导体薄膜沉积工艺
2.工业级二氯化铟原料（纯度≥99%）应用于催化剂制备
3.医药中间体中的二氯化铟络合物（符合USP<231>重金属要求）
4.科研用纳米二氯化铟粉体（粒径分布D50:50-200nm）
5.含铟合金表面处理液（InCl₂浓度0.1-5mol/L）
检测方法
1.ASTME1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯物质》
2.ISO20565-3:2008《含铬耐火制品化学分析-氯化铟的测定》
3.GB/T23367.2-2021《钴酸锂化学分析方法第2部分：氯化物含量的测定》
4.JISK0068:2020《化学制品结晶水测定方法》
5.GB/T30447-2013《纳米薄膜材料厚度测量方法》
检测设备
1.Agilent7900ICP-MS：痕量元素分析（检出限0.01ppb）
2.Metrohm905Titrando自动电位滴定仪：氯离子精确测定（分辨率0.1μL）
3.NetzschSTA449F3同步热分析仪：TG-DSC联用（温度精度0.1℃）
4.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：纳米颗粒表征（量程0.01-3500μm）
5.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：晶体结构分析（2θ角精度0.0001）
6.MettlerToledoXPR6U超微量天平（称量精度0.1μg）
7.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪（火焰/石墨炉双模式）
8.SartoriusMA35水分分析仪（卤素加热温度200℃）
9.ThermoScientificiCAPRQICP-OES（径向观测等离子体技术）
10.JEOLJSM-7900F场发射扫描电镜（分辨率0.8nm@15kV）