检测项目
化学成分分析：Cu含量（20-40%）、Ga含量（15-30%）、S含量（30-50%）及杂质元素（As、Pb、Zn≤0.1%）
晶体结构分析：晶格参数（a=5.42±0.02Å，c=10.86±0.03Å）、空间群（I-42m）
物相组成检测：硫镓铜矿主相占比（≥95%）、共生相（黄铜矿、方铅矿≤3%）
元素分布均匀性：EDS面扫描Ga/Cu原子比偏差（±5%）
热稳定性测试：TG-DSC分析（200-800℃失重率≤2%）
检测范围
地质矿石样品：原生硫镓铜矿、氧化带蚀变矿
工业精矿原料：选矿厂铜镓精矿（Cu+Ga≥60%）
半导体前驱体：CIGS薄膜光伏材料（Ga/(Ga+In)=15-25%）
再生资源材料：电子废料回收镓铜合金
科研合成样品：水热法/气相沉积法制备单晶
检测方法
X射线荧光光谱法（GB/T 16597-2019、ASTM E1621-22）
粉末X射线衍射法（ISO 20203:2015、GB/T 18043-2020）
扫描电镜-能谱联用（SEM-EDS）（GB/T 17359-2023）
电感耦合等离子体质谱法（GB/T 39145-2020、ISO 17294-2:2016）
同步热分析法（GB/T 27761-2023、ASTM E1131-20）
检测设备
Rigaku SmartLab X射线衍射仪：2θ角范围5-140°，Cu-Kα辐射（λ=1.5406Å）
Thermo Fisher ARL PERFORM'X XRF光谱仪：Rh靶，检测限0.001-100%
JEOL JSM-IT800扫描电镜：分辨率1nm，配备Oxford X-MaxN 150 EDS探测器
PerkinElmer NexION 350D ICP-MS：质量范围2-280amu，检出限0.1ppb
NETZSCH STA 449 F5同步热分析仪：温度范围RT-1500℃，升温速率0.1-50K/min