检测项目
砷（As）含量检测：检测范围0.01-5.00 ppm，精度±0.002 ppm
锑（Sb）含量检测：检测范围0.05-10.00 ppm，分辨率≤0.5%
铋（Bi）纯度分析：纯度≥99.99%，杂质总量≤50 ppm
碲（Te）晶型结构分析：XRD半峰宽≤0.1°
硒（Se）氧化态检测：Se⁴⁺/Se⁶⁺比例误差±1.5%
检测范围
锑矿石及精矿（如辉锑矿、方锑矿）
铋基合金材料（铋锡合金、铋铅合金）
碲化镉（CdTe）光伏薄膜
砷化镓（GaAs）半导体晶圆
高纯硒粉（≥99.995%）及硒化合物
检测方法
X射线荧光光谱法（XRF）：ASTM D5381，GB/T 16597
电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：ISO 17294-2，GB/T 36244
原子吸收光谱法（AAS）：GB/T 17138，ISO 8288
X射线衍射分析（XRD）：ASTM E915，GB/T 23413
离子色谱法（IC）：ISO 10304-1，GB/T 31195
检测设备
Thermo Scientific ARL PERFORM'X XRF光谱仪：多元素同步检测，分辨率<5 eV
PerkinElmer NexION 350D ICP-MS：检出限低至0.1 ppt，动态线性范围>10⁹
Agilent 240Z AA原子吸收光谱仪：石墨炉温控精度±1℃，火焰稳定性≤0.2% RSD
Bruker D8 ADVANCE XRD系统：2θ角度范围5-160°，步进精度0.0001°
Metrohm 930 Compact IC Flex离子色谱仪：电导检测灵敏度0.5 nS/cm