检测项目
1.电参数一致性：静态电流，动态电流，阈值电压。
2.信号完整性：上升时间，下降时间，过冲幅度。
3.时序特性：传播延迟，建立时间，保持时间。
4.功耗特性：静态功耗，动态功耗，待机功耗。
5.功能正确性：逻辑功能，接口响应，状态机切换。
6.接口兼容性：输入电平，输出电平，驱动能力。
7.噪声敏感性：电源纹波容限，地弹容限，串扰容限。
8.环境适应性：高温工作，低温工作，温度循环。
9.可靠性筛选：加速老化，热应力，电应力。
10.封装完整性：引脚连通性，封装密封性，焊点强度。
11.静电防护：静电耐受，瞬态冲击，复位恢复。
12.失效分析：失效定位，电性退化，热损伤评估。
检测范围
控制芯片、存储芯片、接口芯片、逻辑芯片、模拟芯片、射频芯片、电源管理芯片、驱动芯片、传感器芯片、转换芯片、信号处理芯片、通信芯片、时钟芯片、加密芯片、图像处理芯片、运算芯片、音频处理芯片
检测设备
1.直流参数测试系统：用于测量电压电流阈值等直流特性。
2.脉冲信号分析仪：用于评估上升下降时间与过冲幅度。
3.时序测试平台：用于测定传播延迟与时序裕量。
4.功耗测量系统：用于统计静态与动态功耗变化。
5.功能测试平台：用于验证逻辑功能与接口响应。
6.温度环境试验箱：用于进行高低温与温度循环试验。
7.静电防护试验装置：用于评估静电耐受与恢复能力。
8.可靠性老化系统：用于加速老化与应力筛选试验。
9.封装检查设备：用于检查引脚连通性与封装完整性。
10.失效分析工具：用于定位失效区域与评估损伤原因。