检测项目

1. 修饰层厚度测定(范围0.1~50 nm,精度±0.1 nm)

2. 表面包覆率(grafting density: 0.1~5 chains/nm²,精度±2%)

3. 表面官能团定量(XPS/FTIR分析,精度±5%)

4. 分散稳定性评估(Zeta电位绝对值>30 mV为稳定)

5. 修饰前后粒径变化(DLS法,精度±1 nm)

检测范围

1. 金属纳米颗粒:金纳米粒子-PPEG修饰(核径5~50 nm)

2. 磁性纳米颗粒:Fe3O4-SiO2核壳结构修饰(核径10~50 nm)

3. 半导体量子点:CdSe/ZnS PEG修饰(粒径2~10 nm)

4. 碳基纳米材料:氧化石墨烯(GO)、碳纳米管(CNT)表面功能化

5. 二维纳米材料:MoS2、MXene表面有机分子修饰

检测方法

1. GB/T 39118-2020 纳米技术 纳米材料表面化学分析方法

2. ISO/TR 18197:2016 纳米技术 纳米材料表面修饰表征指南

3. GB/T 30984.2-2017 太阳能用玻璃 第2部分:透明导电氧化物膜

4. GB/T 36326-2018 透射电子显微镜分析方法通则

5. ASTM E2857-21 标准指南 数据采集和报告

检测设备

1. X射线光电子能谱仪(Thermo ESCALAB 250Xi):能量分辨率0.45 eV,分析区域500 μm

2. 傅里叶红外光谱仪(Thermo Nicolet iS50):光谱范围7800~350 cm⁻¹,分辨率0.09 cm⁻¹

3. 透射电子显微镜(FEI Titan Themis 300):点分辨率0.08 nm,加速电压80~300 kV

4. 纳米粒度及Zeta电位分析仪(Malvern Zetasizer Ultra):粒径0.3 nm~10 μm

5. 原子力显微镜(Bruker Dimension Icon):扫描范围90×90 μm,垂直分辨率0.03 nm

6. 热重分析仪(NETZSCH TG 209 F3):温度范围RT~1000℃,天平灵敏度0.1 μg

7. Raman光谱仪(Horiba LabRAM HR Evolution):光谱范围50~8000 cm⁻¹,分辨率0.3 cm⁻¹

8. 超速冷冻离心机(Beckman Coulter Optima XPN-100):最大转速100000 rpm,最大离心力802400 g