1. 化学成分分析:测定Cu纯度(≥99.90%)、氧含量(≤0.05%)、硫含量(≤0.005%)及微量元素(Pb、Fe、Bi等)限量
2. 晶粒度测定:依据ASTM E112标准评定晶粒尺寸(10-200μm范围),计算平均截距与晶界密度
3. 拉伸性能测试:测量抗拉强度(200-400MPa)、屈服强度(60-250MPa)及断后伸长率(15-50%)
4. 导电率检测:采用四探针法测定电导率(58-60MS/m)与电阻温度系数(≤0.0043/℃)
5. 硬度测试:维氏硬度(HV 40-100)或布氏硬度(HB 35-80)测定
1. 电子工业用高纯多晶铜箔(厚度0.01-0.5mm)
2. 电力传输用多晶铜母线(截面10×100mm至150×200mm)
3. 真空镀膜靶材(纯度99.99%-99.999%)
4. 热交换器用多晶铜管材(外径6-300mm)
5. 电磁线绕组用退火铜线(直径0.05-10mm)
1. ASTM E8/E8M:金属材料拉伸试验标准方法
2. ISO 2624:1990:铜及铜合金化学分析通用规则
3. GB/T 4340.1-2009:金属材料维氏硬度试验第1部分:试验方法
4. ASTM B193-16:导电材料电阻率测试标准
5. GB/T 6394-2017:金属平均晶粒度测定方法
1. 扫描电子显微镜(JSM-IT800):微观形貌观察与能谱成分分析
2. 万能材料试验机(Instron 5985):最大载荷250kN的拉伸/压缩性能测试
3. 四探针电阻测试仪(Loresta-GP MCP-T700):量程10^-4~10^6Ω·cm的导电率测量
4. 全自动显微硬度计(Wilson VH3300):载荷范围10gf-50kgf的维氏/努氏硬度测试
5. 直读光谱仪(ARL 4460):可同时分析Cu及18种杂质元素的成分检测
6. 金相制样系统(Struers Tegramin-30):自动研磨抛光制备微观组织样品
7. X射线衍射仪(Bruker D8 ADVANCE):晶体结构分析与织构测定
8. 热膨胀仪(NETZSCH DIL 402 Expedis):测量20-1000℃范围内的热膨胀系数
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与多晶铜检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。