发荧光寿命检测

检测项目

1.荧光寿命值（τ）：测量范围0.1ps-10ms，精度5%

2.量子产率（Φ）：相对误差≤3%，采用参比法校准

3.衰减曲线拟合参数：多指数拟合（R≥0.99）

4.激发波长依赖性：覆盖200-1100nm光谱范围

5.温度依赖性测试：温控范围-196℃至300℃，步进精度0.5℃

检测范围

1.有机发光材料：OLED发光层、荧光染料、共轭聚合物

2.生物样品：蛋白质标记物、DNA探针、细胞成像试剂

3.纳米材料：量子点、上转换纳米颗粒、金属有机框架（MOF）

4.聚合物材料：光致发光塑料、荧光纤维

5.半导体材料：钙钛矿薄膜、III-V族化合物

检测方法

1.时间相关单光子计数（TCSPC）：符合ISO13321标准

2.相调制法：参照ASTME2180-18

3.频域荧光寿命成像（FLIM）：依据GB/T33252-2016

4.脉冲取样法：遵循GB/T18988.1-2013

5.瞬态吸收光谱法：兼容ISO18562-3:2017

检测设备

1.HoribaDeltaPro：TCSPC系统，时间分辨率≤25ps

2.EdinburghInstrumentsFLS1000：稳态/瞬态荧光光谱仪

3.PicoQuantFluoTime300：多通道寿命分析模块

4.HamamatsuC11367-11：近红外PMT探测器（300-1700nm）

5.Becker&HicklSPC-150N：单光子计数卡，死时间＜200ns

6.AgilentCaryEclipse：磷光/荧光分光光度计

7.OceanInsightFX系列：光纤耦合荧光寿命模块

8.ThorlabsPMT1001/M：微通道板光电倍增管

9.BrukerVertex80v：傅里叶变换荧光光谱系统

10.LeicaTCSSP8FALCON：共聚焦FLIM成像系统

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"发荧光寿命检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。