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分离双重线检测

  • 原创官网
  • 2025-03-27 09:28:01
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分离双重线检测概述:分离双重线检测是工业材料与精密元件质量控制的关键环节,通过高精度仪器对双线结构的几何参数、表面形貌及力学性能进行量化分析。核心检测指标包括线间距偏差、线宽一致性、边缘粗糙度、基底结合力及耐环境性能,适用于半导体器件、光学元件等高附加值产品的工艺验证与失效分析。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.线间距精度检测:测量范围0.1-500μm,分辨率0.05μm

2.线宽均匀性检测:允许偏差≤1.5%(基准值≥10μm)

3.边缘粗糙度分析:Ra值≤0.02μm(光学级表面)

4.层间结合强度测试:剥离力≥8N/mm(ASTMD903标准)

5.热膨胀系数匹配性:ΔCTE≤1.510⁻⁶/℃(-40℃~150℃)

检测范围

1.金属基双线结构:铜/铝导线、合金键合丝

2.高分子复合双线:柔性电路板导电线路

3.半导体光刻图形:晶圆级互连线路

4.光学衍射元件:全息防伪双线结构

5.陶瓷基厚膜电路:丝网印刷导电双线

检测方法

1.ASTMB748-90(2021):扫描电镜法测量线宽及间距

2.ISO14606:2015:临界尺寸扫描电镜(CD-SEM)校准规范

3.GB/T16594-2008:微米级长度SEM测量方法通则

4.ISO14978:2018:几何量测设备通用验收标准

5.GB/T3505-2009:表面粗糙度参数及其数值规范

检测设备

1.HitachiSU5000场发射扫描电镜:配备BSE探测器,实现5nm分辨率形貌分析

2.BrukerContourGT-X3白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm的3D轮廓测量

3.KLATencorP-7profiler:具备0.6nmRMS重复精度的表面粗糙度测试

4.ZeissAxioCSM700共聚焦显微镜:支持ISO25178标准的微区形貌重建

5.ShimadzuMCT-2100微力试验机:最小载荷0.01N的剥离强度测试

6.Agilent5500AFM原子力显微镜:实现亚纳米级表面特征解析

7.ThermoFisherHeliosG4PFIB双束电镜:支持截面制备与元素分析联用

8.KeyenceVHX-7000数字显微镜:20μm~200mm跨尺度观测系统

9.MitutoyoQuickVisionPro影像仪:配备激光辅助对焦的二维尺寸测量

10.Instron5944微力材料试验机:符合ISO527标准的拉伸性能测试

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与分离双重线检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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