检测项目
1.暗电流测试：测量无光照条件下的漏电流值（＜1nA）
2.光电灵敏度：评估单位光通量下的输出电流（350-900nm波段）
3.空间分辨率：测定极限分辨能力（≥2000TV线）
4.光谱响应范围：分析有效响应波长（200-1100nm）
5.信噪比测试：量化信号与噪声功率比（≥50dB）
6.滞后特性：测量光照停止后残余信号衰减时间（＜5ms）
检测范围
1.单色硅靶摄像管（X射线成像用）
2.彩色分光型硅靶管（多光谱分析系统）
3.高灵敏度硅靶管（微光夜视设备）
4.微光级增强型硅靶管（天文观测仪器）
5.红外增强硅靶管（特殊波段探测装置）
6.高速扫描硅靶管（瞬态现象记录系统）
检测方法
1.GB/T26248-2010《摄像管测试方法》光电参数测试规范
2.ISO9022-20:2015《光学系统环境试验》温度循环测试
3.ASTME2593-12《光电探测器线性度测量标准》动态范围测试
4.GB/T13583-1992《摄像管分辨力测量方法》MTF曲线分析
5.IEC61340-4-1:2015《静电放电敏感度测试》抗干扰能力验证
6.SJ/T11498-2015《光电成像器件寿命试验方法》加速老化测试
检测设备
1.Keithley6487皮安表：0.1fA分辨率暗电流测量系统
2.ThermoScientificEvolution220紫外可见分光光度计：光谱响应特性分析仪
3.ImageEngineeringIQ-LABPRO光学测试台：MTF/分辨率综合测试平台
4.KeysightB2902A精密源表：光电转换特性曲线扫描装置
5.LabsphereLMS-7600积分球光源系统：标准照度校准装置
6.ESPECPL-3KPH温度冲击试验箱：-70℃~+150℃环境适应性测试设备
7.HamamatsuC10910光电参数综合测试仪：量子效率/响应时间同步测量系统
8.BrukerContourElite白光干涉仪：靶面微观形貌三维分析仪
9.TektronixMSO64B混合信号示波器：高速瞬态响应波形采集系统
10.VaisalaHUMICAPHMT337温湿度记录仪：长期稳定性试验环境监控装置