1.膜层厚度测量:采用非接触式椭偏仪检测10nm-10μm范围厚度误差(2nm)
2.折射率测定:光谱反射法测量380-2500nm波段折射率精度0.002
3.透光率测试:依据ISO9050标准测量400-700nm可见光透过率偏差≤0.5%
4.附着力评估:划格法测试符合ASTMD3359B级标准(3M胶带剥离无脱落)
5.耐腐蚀性检验:盐雾试验按GB/T10125执行500小时无起泡/剥落
6.表面粗糙度分析:原子力显微镜测量Ra值≤0.5nm(扫描范围1010μm)
1.光学镀膜:包含增透膜、分光膜、滤光片等光学元件功能层
2.半导体封装膜:晶圆级封装用SiNx/SiO₂复合介质层
3.光伏薄膜:CIGS/CdTe太阳能电池缓冲层与窗口层
4.柔性显示膜:OLED器件中Al₂O₃阻水氧薄膜
5.防反射涂层:AR玻璃表面多层MgF₂/TiO₂镀层
1.ASTME903-20《材料太阳吸收率与透射率测试标准》
2.ISO14782-2017《塑料材料雾度与透光率测定方法》
3.GB/T26323-2010《色漆和清漆薄膜厚度的无损测量》
4.ISO9227-2022《人造气氛腐蚀试验盐雾试验》
5.ASTMF1048-2021《集成电路介质层击穿电压测试规范》
1.J.A.WoollamM-2000椭偏仪:支持190-1700nm宽光谱薄膜分析
2.PerkinElmerLambda1050分光光度计:波长精度0.08nm
3.BrukerDektakXT轮廓仪:垂直分辨率0.1
4.Keysight5500AFM原子力显微镜:扫描精度0.1nmXYZ方向
5.Taber7100线性摩擦试验机:符合ISO10545摩擦测试标准
6.ThermoScientificESCALABXi+XPS能谱仪:元素分析精度0.1at%
7.Q-LabQ-FOGCRH盐雾箱:温控精度1℃(符合ASTMB117)
8.Instron5944万能材料试验机:载荷分辨率0.001N
9.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:横向分辨率120nm
10.Agilent4156C半导体参数分析仪:电流分辨率10fA
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与介质膜检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。