检测项目
1.晶体结构完整性检测：XRD分析（2θ范围5-90），晶格常数偏差≤0.002nm
2.元素纯度测定：ICP-MS检测（Li至U全谱分析），杂质总含量≤50ppm
3.光学均匀性测试：632.8nm激光干涉法，折射率不均匀性≤510⁻⁶
4.热膨胀系数测定：-50℃至300℃温度范围，CTE≤7.510⁻⁶/℃
5.表面缺陷检测：100倍光学显微镜观察，缺陷密度≤3个/cm
检测范围
1.碱金属碘化物闪烁晶体（NaI:Tl,CsI:Na等）
2.卤化铅钙钛矿单晶（MAPbI₃,FAPbI₃等）
3.γ射线探测器用铊系碘化物晶体
4.红外光学元件用碘化铯窗口材料
5.核医学成像用掺铊碘化铯闪烁体
检测方法
ASTME112-13晶粒度测定方法
ISO14706:2014表面元素污染分析标准
GB/T13301-2019晶体缺陷X射线检测方法
ISO17561:2016单晶材料弹性常数测试
GB/T25915.8-2021洁净室表面污染物检测
检测设备
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备高温附件（RT-1500），精度0.0001
2.Agilent7900ICP-MS：检出限达ppt级，质量分辨率0.025amu
3.ZygoVerifireMST激光干涉仪：632.8nm波长，PV值测量精度λ/100
4.NetzschDIL402C热膨胀仪：温度分辨率0.1℃，位移分辨率0.125nm
5.JEOLJSM-IT800扫描电镜：配备EDAXOctaneElite能谱仪，分辨率1.0nm@15kV
6.PerkinElmerLambda1050+紫外分光光度计：光谱范围175-3300nm，带宽0.05nm
7.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：扫描范围90μm90μm，Z轴分辨率0.05nm
8.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm，重复性误差<1%
9.ThermoScientificARLEQUINOX1000XRF光谱仪：元素范围Be-U，检出限1ppm
10.LinkamTS1500高温显微镜：最高温度1500℃，升温速率0.01-150℃/min